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综合孔径辐射计误差校正方法、系统、终端设备及介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510432286.9
申请日：
2025-04-08
公开(公告)号：
CN120352841A
公开(公告)日：
2025-07-22
发明(设计)人：
董健 李佳欣 窦昊锋 肖程望 李一楠 宋广南 李鹏飞
申请人：
中南大学
申请人地址：
410012 湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号
IPC主分类号：
G01S7/40
IPC分类号：
G06N3/0464 G06N3/045 G06N3/084 G06V10/44 G06V10/82
代理机构：
北京风雅颂专利代理有限公司 11403
代理人：
曾志鹏
法律状态：
公开
国省代码：
湖南省 长沙市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-22 公开 公开
2025-08-08 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01S 7/40申请日:20250408
共 50 条
[1]   基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
李育芳 ;
吴袁超 ;
雷振羽 .
中国专利 :CN108375758A ,2018-08-07
[2]   一种综合孔径辐射计成像校正方法 [P]. 
李青侠 ;
陈柯 ;
陈良兵 ;
郭伟 ;
胡飞 ;
朱耀庭 ;
何方敏 ;
董健 .
中国专利 :CN101261319B ,2008-09-10
[3]   基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法 [P]. 
李青侠 ;
靳榕 ;
沈尚宇 ;
陈柯 .
中国专利 :CN102621532B ,2012-08-01
[4]   基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P]. 
窦昊锋 ;
李浩 ;
吴袁超 ;
李一楠 ;
宋广南 ;
吕容川 ;
姜任之 .
中国专利 :CN114185009B ,2025-07-15
[5]   基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P]. 
窦昊锋 ;
李浩 ;
吴袁超 ;
李一楠 ;
宋广南 ;
吕容川 ;
姜任之 .
中国专利 :CN114185009A ,2022-03-15
[6]   一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法 [P]. 
郭曦 ;
刘浩 ;
张成 ;
吴季 .
中国专利 :CN110515049A ,2019-11-29
[7]   综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计 [P]. 
陈建飞 ;
陈晓红 ;
张胜 .
中国专利 :CN107797110A ,2018-03-13
[8]   一种综合孔径微波辐射计联合校正方法 [P]. 
李青侠 ;
卢海梁 ;
李浩 ;
李一楠 ;
李炎 ;
余锐 ;
吕容川 .
中国专利 :CN105738851B ,2016-07-06
[9]   综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P]. 
胡飞 ;
付鹏 ;
朱冬 ;
苏金龙 .
中国专利 :CN114200448A ,2022-03-18
[10]   综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P]. 
胡飞 ;
付鹏 ;
朱冬 ;
苏金龙 .
中国专利 :CN114200448B ,2025-01-28
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