基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210092674.X

申请日：

2012-03-31

公开(公告)号：

CN102621532B

公开(公告)日：

2012-08-01

发明(设计)人：

李青侠靳榕沈尚宇陈柯

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01S740

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

李智

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-05-22	授权	授权
2012-08-01	公开	公开
2012-09-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101329746936 IPC(主分类):G01S 7/40 专利申请号:201210092674X 申请日:20120331

共 50 条

[1] 基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375758A ,2018-08-07

[2] 综合孔径辐射计误差校正方法、系统、终端设备及介质 [P].

董健 ;

李佳欣 ;

窦昊锋 ;

肖程望 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

李鹏飞 .

中国专利 :CN120352841A ,2025-07-22

[3] 一种综合孔径辐射计可见度函数快速计算方法 [P].

李刚 ;

郭曦 ;

王学谦 .

中国专利 :CN118551141A ,2024-08-27

[4] 基于单射频接收阵列的综合孔径辐射计 [P].

凌小峰 ;

栾英宏 ;

郭松 ;

徐红新 ;

冯剑锋 ;

汪楠 .

中国专利 :CN107479054B ,2017-12-15

[5] 基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P].

窦昊锋 ;

李浩 ;

吴袁超 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

吕容川 ;

姜任之 .

中国专利 :CN114185009B ,2025-07-15

[6] 基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P].

窦昊锋 ;

李浩 ;

吴袁超 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

吕容川 ;

姜任之 .

中国专利 :CN114185009A ,2022-03-15

[7] 一种综合孔径辐射计成像校正方法 [P].

李青侠 ;

陈柯 ;

陈良兵 ;

郭伟 ;

胡飞 ;

朱耀庭 ;

何方敏 ;

董健 .

中国专利 :CN101261319B ,2008-09-10

[8] 一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515049A ,2019-11-29

[9] 一种基于旋转分时采样的综合孔径辐射计相位自定标方法 [P].

韩东浩 ;

刘浩 ;

吴季 ;

张成 ;

张颖 .

中国专利 :CN105548973A ,2016-05-04

[10] 一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P].

胡飞 ;

杨秀晴 ;

徐炎煜 .

中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30

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