一种综合孔径辐射计成像校正方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200810047372.4
申请日
2008-04-18
公开(公告)号
CN101261319B
公开(公告)日
2008-09-10
发明(设计)人
李青侠 陈柯 陈良兵 郭伟 胡飞 朱耀庭 何方敏 董健
申请人
申请人地址
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号
G01S740
IPC分类号
G01S1390
代理机构
华中科技大学专利中心 42201
代理人
曹葆青
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
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