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一种综合孔径辐射计成像校正方法
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN200810047372.4
申请日:
2008-04-18
公开(公告)号:
CN101261319B
公开(公告)日:
2008-09-10
发明(设计)人:
李青侠
陈柯
陈良兵
郭伟
胡飞
朱耀庭
何方敏
董健
申请人:
申请人地址:
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号:
G01S740
IPC分类号:
G01S1390
代理机构:
华中科技大学专利中心 42201
代理人:
曹葆青
法律状态:
专利权的终止
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2014-06-11 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101582879119 IPC(主分类):G01S 7/40 专利号:ZL2008100473724 申请日:20080418 授权公告日:20101201 终止日期:20130418 |
2008-09-10 | 公开 | 公开 |
2008-10-29 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 |
2010-12-01 | 授权 | 授权 |