基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810110499.X

申请日：

2018-02-05

公开(公告)号：

CN108375758A

公开(公告)日：

2018-08-07

发明(设计)人：

李青侠窦昊锋桂良启李育芳吴袁超雷振羽

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01S740

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

李智;曹葆青

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/40 申请日:20180205
2020-05-19	授权	授权
2018-08-07	公开	公开

共 50 条

[1] 基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P].

窦昊锋 ;

李浩 ;

吴袁超 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

吕容川 ;

姜任之 .

中国专利 :CN114185009B ,2025-07-15

[2] 基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P].

窦昊锋 ;

李浩 ;

吴袁超 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

吕容川 ;

姜任之 .

中国专利 :CN114185009A ,2022-03-15

[3] 基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375768B ,2018-08-07

[4] 镜像综合孔径辐射计 [P].

李青侠 .

中国专利 :CN103217588A ,2013-07-24

[5] 基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375767B ,2018-08-07

[6] 综合孔径辐射计误差校正方法、系统、终端设备及介质 [P].

董健 ;

李佳欣 ;

窦昊锋 ;

肖程望 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

李鹏飞 .

中国专利 :CN120352841A ,2025-07-22

[7] 基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法 [P].

李青侠 ;

靳榕 ;

沈尚宇 ;

陈柯 .

中国专利 :CN102621532B ,2012-08-01

[8] 基于权向量优化的镜像综合孔径辐射计成像方法及系统 [P].

雷振羽 ;

孙瑞 ;

徐杨 ;

梁启超 .

中国专利 :CN119780921A ,2025-04-08

[9] 一种综合孔径辐射计成像校正方法 [P].

李青侠 ;

陈柯 ;

陈良兵 ;

郭伟 ;

胡飞 ;

朱耀庭 ;

何方敏 ;

董健 .

中国专利 :CN101261319B ,2008-09-10

[10] 旋转镜像综合孔径辐射计及测量方法 [P].

李青侠 .

中国专利 :CN104535998A ,2015-04-22

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