基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810110499.X

申请日：

2018-02-05

公开(公告)号：

CN108375758A

公开(公告)日：

2018-08-07

发明(设计)人：

李青侠窦昊锋桂良启李育芳吴袁超雷振羽

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01S740

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

李智;曹葆青

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/40 申请日:20180205
2020-05-19	授权	授权
2018-08-07	公开	公开

共 50 条

[31] 一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515048B ,2019-11-29

[32] 基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法和系统 [P].

李达 .

中国专利 :CN104569976B ,2015-04-29

[33] 基于均匀背景匹配估计的综合孔径辐射计目标检测方法、设备和介质 [P].

王金国 ;

高昭昭 ;

顾杰 ;

赵子龙 ;

付忠健 .

中国专利 :CN119992052A ,2025-05-13

[34] 一种基于多参数正则化的综合孔径辐射计反演处理方法 [P].

杨晓城 ;

杨真乙 ;

蒋明峰 .

中国专利 :CN113203479A ,2021-08-03

[35] 基于深度学习的一维综合孔径辐射计海面风速反演方法 [P].

艾未华 ;

乔俊淇 ;

刘茂宏 ;

郭朝刚 .

中国专利 :CN112180369B ,2021-01-05

[36] 一种用于综合孔径辐射计阵列的定标方法 [P].

吴海涵 ;

赵崇辉 ;

崔广斌 .

中国专利 :CN109828249A ,2019-05-31

[37] 一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法 [P].

李青侠 ;

丰励 .

中国专利 :CN103323845A ,2013-09-25

[38] 一种通道压缩综合孔径辐射计成像方法及系统 [P].

胡飞 ;

郑涛 ;

雷贤 .

中国专利 :CN110554386B ,2019-12-10

[39] 均匀圆阵列综合孔径辐射计亮温反演成像方法 [P].

黄建 ;

裴乃昌 ;

熊阳 .

中国专利 :CN111538000A ,2020-08-14

[40] 综合孔径辐射计接收机的模拟相关电路 [P].

刘秉策 ;

张瑞 ;

陈甘霖 ;

杨子辰 ;

赵丁雷 .

中国专利 :CN119901377B ,2025-06-13

← 1 2 3 4 5 →