均匀圆阵列综合孔径辐射计亮温反演成像方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010233551.8

申请日：

2020-03-30

公开(公告)号：

CN111538000A

公开(公告)日：

2020-08-14

发明(设计)人：

黄建裴乃昌熊阳

申请人：

申请人地址：

610036 四川省成都市金牛区茶店子东街48号

IPC主分类号：

G01S1390

IPC分类号：

代理机构：

成飞(集团)公司专利中心 51121

代理人：

郭纯武

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 13/90 申请日:20200330
2020-08-14	公开	公开

共 50 条

[1] 三维均匀采样综合孔径辐射计亮温反演方法 [P].

丰励 ;

李育芳 .

中国专利 :CN107607946A ,2018-01-19

[2] 一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法 [P].

李青侠 ;

丰励 .

中国专利 :CN103323845A ,2013-09-25

[3] 三维天线阵综合孔径辐射计快速亮温反演方法 [P].

黄建 ;

裴乃昌 ;

熊阳 ;

何毅龙 .

中国专利 :CN111538001A ,2020-08-14

[4] 镜像综合孔径辐射计 [P].

李青侠 .

中国专利 :CN103217588A ,2013-07-24

[5] 一种镜像综合孔径辐射计反演方法 [P].

陈柯 ;

胡孔勇 ;

李青侠 ;

桂良启 ;

郎量 ;

郭伟 ;

靳榕 .

中国专利 :CN105353375A ,2016-02-24

[6] 一种综合孔径辐射计图像反演方法 [P].

陈柯 ;

胡飞 ;

黄全亮 ;

贺锋 ;

郭伟 ;

杨宏 ;

赖利 ;

魏文俊 .

中国专利 :CN102914774A ,2013-02-06

[7] 综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计 [P].

陈建飞 ;

陈晓红 ;

张胜 .

中国专利 :CN107797110A ,2018-03-13

[8] 综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P].

胡飞 ;

付鹏 ;

朱冬 ;

苏金龙 .

中国专利 :CN114200448A ,2022-03-18

[9] 综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P].

胡飞 ;

付鹏 ;

朱冬 ;

苏金龙 .

中国专利 :CN114200448B ,2025-01-28

[10] 综合孔径辐射计虚拟相关稀疏成像方法及系统 [P].

申艳 ;

刘静 ;

娄淑琴 ;

陈莹 ;

郝晓莉 ;

侯亚丽 ;

陈后金 ;

闻映红 ;

张超 ;

黄亮 .

中国专利 :CN109061645B ,2018-12-21

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