综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111381927.0

申请日：

2021-11-19

公开(公告)号：

CN114200448B

公开(公告)日：

2025-01-28

发明(设计)人：

胡飞付鹏朱冬苏金龙

申请人：

华中科技大学

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01S13/90

IPC分类号：

G01S13/88 G06F17/14

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

胡秋萍

法律状态：

授权

国省代码：

湖北省武汉市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-28	授权	授权

共 50 条

[1] 综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P].

胡飞 ;

付鹏 ;

朱冬 ;

苏金龙 .

中国专利 :CN114200448A ,2022-03-18

[2] 基于波数域分解的综合孔径辐射计近场成像方法及系统 [P].

胡飞 ;

付鹏 ;

郑涛 ;

胡昊 .

中国专利 :CN113970740A ,2022-01-25

[3] 基于波数域分解的综合孔径辐射计近场成像方法及系统 [P].

胡飞 ;

付鹏 ;

郑涛 ;

胡昊 .

中国专利 :CN113970740B ,2024-06-14

[4] 综合孔径辐射计虚拟相关稀疏成像方法及系统 [P].

申艳 ;

刘静 ;

娄淑琴 ;

陈莹 ;

郝晓莉 ;

侯亚丽 ;

陈后金 ;

闻映红 ;

张超 ;

黄亮 .

中国专利 :CN109061645B ,2018-12-21

[5] 一种通道压缩综合孔径辐射计成像方法及系统 [P].

胡飞 ;

郑涛 ;

雷贤 .

中国专利 :CN110554386B ,2019-12-10

[6] 综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计 [P].

陈建飞 ;

陈晓红 ;

张胜 .

中国专利 :CN107797110A ,2018-03-13

[7] 基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375768B ,2018-08-07

[8] 用于毫米波综合孔径辐射计的近场三维成像系统及方法 [P].

范皓然 ;

陈建飞 ;

张胜 ;

蔡志匡 .

中国专利 :CN114280602B ,2025-05-27

[9] 用于毫米波综合孔径辐射计的近场三维成像系统及方法 [P].

范皓然 ;

陈建飞 ;

张胜 ;

蔡志匡 .

中国专利 :CN114280602A ,2022-04-05

[10] 全实天线镜像综合孔径辐射计及成像方法 [P].

雷振羽 ;

张天柱 ;

董亚洲 ;

孙瑞 ;

徐杨 ;

梁启超 .

中国专利 :CN117491748A ,2024-02-02

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