镜像综合孔径辐射计

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310092100.7

申请日：

2013-03-21

公开(公告)号：

CN103217588A

公开(公告)日：

2013-07-24

发明(设计)人：

李青侠

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01R2908

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

朱仁玲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-11-18	授权	授权
2013-08-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101509129277 IPC(主分类):G01R 29/08 专利申请号:2013100921007 申请日:20130321
2013-07-24	公开	公开

共 50 条

[1] 旋转镜像综合孔径辐射计及测量方法 [P].

李青侠 .

中国专利 :CN104535998A ,2015-04-22

[2] 一种镜像综合孔径辐射计反演方法 [P].

陈柯 ;

胡孔勇 ;

李青侠 ;

桂良启 ;

郎量 ;

郭伟 ;

靳榕 .

中国专利 :CN105353375A ,2016-02-24

[3] 全实天线镜像综合孔径辐射计及成像方法 [P].

雷振羽 ;

张天柱 ;

董亚洲 ;

孙瑞 ;

徐杨 ;

梁启超 .

中国专利 :CN117491748A ,2024-02-02

[4] 一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P].

胡飞 ;

杨秀晴 ;

徐炎煜 .

中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30

[5] 倾斜四反射板镜像综合孔径辐射计及成像方法 [P].

李青侠 ;

雷振羽 ;

窦昊锋 ;

李育芳 ;

陈柯 ;

靳榕 ;

桂良启 ;

郎量 .

中国专利 :CN110118968A ,2019-08-13

[6] 基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375768B ,2018-08-07

[7] 一维综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN201138358Y ,2008-10-22

[8] 全极化综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN101349719A ,2009-01-21

[9] 基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375767B ,2018-08-07

[10] 基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P].

窦昊锋 ;

李浩 ;

吴袁超 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

吕容川 ;

姜任之 .

中国专利 :CN114185009B ,2025-07-15

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