一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310176506.3

申请日：

2013-05-13

公开(公告)号：

CN103323845A

公开(公告)日：

2013-09-25

发明(设计)人：

李青侠丰励

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01S1390

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

朱仁玲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-10-30	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101533526480 IPC(主分类):G01S 13/90 专利申请号:2013101765063 申请日:20130513
2015-04-15	授权	授权
2013-09-25	公开	公开

共 50 条

[1] 一种综合孔径辐射计图像反演方法 [P].

陈柯 ;

胡飞 ;

黄全亮 ;

贺锋 ;

郭伟 ;

杨宏 ;

赖利 ;

魏文俊 .

中国专利 :CN102914774A ,2013-02-06

[2] 三维均匀采样综合孔径辐射计亮温反演方法 [P].

丰励 ;

李育芳 .

中国专利 :CN107607946A ,2018-01-19

[3] 均匀圆阵列综合孔径辐射计亮温反演成像方法 [P].

黄建 ;

裴乃昌 ;

熊阳 .

中国专利 :CN111538000A ,2020-08-14

[4] 一种镜像综合孔径辐射计反演方法 [P].

陈柯 ;

胡孔勇 ;

李青侠 ;

桂良启 ;

郎量 ;

郭伟 ;

靳榕 .

中国专利 :CN105353375A ,2016-02-24

[5] 一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515048B ,2019-11-29

[6] 一种综合孔径微波辐射计阵列因子成型方法 [P].

李青侠 ;

丰励 ;

陈柯 ;

李育芳 .

中国专利 :CN103955602A ,2014-07-30

[7] 一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P].

胡飞 ;

杨秀晴 ;

徐炎煜 .

中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30

[8] 一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515049A ,2019-11-29

[9] 一种基于多参数正则化的综合孔径辐射计反演处理方法 [P].

杨晓城 ;

杨真乙 ;

蒋明峰 .

中国专利 :CN113203479A ,2021-08-03

[10] 一种三维天线阵列综合孔径辐射计的图像反演方法 [P].

丰励 ;

李育芳 .

中国专利 :CN106842203B ,2017-06-13

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