一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310176506.3

申请日：

2013-05-13

公开(公告)号：

CN103323845A

公开(公告)日：

2013-09-25

发明(设计)人：

李青侠丰励

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01S1390

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

朱仁玲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-10-30	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101533526480 IPC(主分类):G01S 13/90 专利申请号:2013101765063 申请日:20130513
2015-04-15	授权	授权
2013-09-25	公开	公开

共 50 条

[21] 一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法 [P].

武林 ;

刘浩 ;

金梦彤 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN106092336B ,2016-11-09

[22] 一种通道压缩综合孔径辐射计成像方法及系统 [P].

胡飞 ;

郑涛 ;

雷贤 .

中国专利 :CN110554386B ,2019-12-10

[23] 一种基于旋转分时采样的综合孔径辐射计相位自定标方法 [P].

韩东浩 ;

刘浩 ;

吴季 ;

张成 ;

张颖 .

中国专利 :CN105548973A ,2016-05-04

[24] 基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375767B ,2018-08-07

[25] 基于均匀背景匹配估计的综合孔径辐射计目标检测方法、设备和介质 [P].

王金国 ;

高昭昭 ;

顾杰 ;

赵子龙 ;

付忠健 .

中国专利 :CN119992052A ,2025-05-13

[26] 全实天线镜像综合孔径辐射计及成像方法 [P].

雷振羽 ;

张天柱 ;

董亚洲 ;

孙瑞 ;

徐杨 ;

梁启超 .

中国专利 :CN117491748A ,2024-02-02

[27] 综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P].

胡飞 ;

付鹏 ;

朱冬 ;

苏金龙 .

中国专利 :CN114200448A ,2022-03-18

[28] 综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P].

胡飞 ;

付鹏 ;

朱冬 ;

苏金龙 .

中国专利 :CN114200448B ,2025-01-28

[29] 一种编队星载综合孔径辐射计成像方法 [P].

申艳 ;

张志凡 ;

廖琛 ;

王忠立 ;

邵小桃 ;

侯亚丽 ;

王明江 .

中国专利 :CN118392312A ,2024-07-26

[30] 一种基于深度展开网络的综合孔径辐射计重构方法 [P].

杨晓城 ;

程伟豪 ;

蒋明峰 ;

魏波 .

中国专利 :CN119048628A ,2024-11-29

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