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基于均匀背景匹配估计的综合孔径辐射计目标检测方法、设备和介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510074023.5
申请日：
2025-01-17
公开(公告)号：
CN119992052A
公开(公告)日：
2025-05-13
发明(设计)人：
王金国 高昭昭 顾杰 赵子龙 付忠健
申请人：
中国电子科技集团公司第二十九研究所
申请人地址：
610036 四川省成都市金牛区营康西路496号
IPC主分类号：
G06V10/25
IPC分类号：
G01S13/89 G06F30/20
代理机构：
成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214
代理人：
刘凯
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-13 公开 公开
2025-05-30 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/25申请日:20250117
共 50 条
[1]   基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
李育芳 ;
吴袁超 ;
雷振羽 .
中国专利 :CN108375768B ,2018-08-07
[2]   一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P]. 
胡飞 ;
杨秀晴 ;
徐炎煜 .
中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30
[3]   星载综合孔径辐射计天线辐射目标确定方法、装置及设备 [P]. 
刁宁辉 ;
周武 ;
杨小娇 ;
李一楠 ;
石磊 ;
栗曦 .
中国专利 :CN119714559B ,2025-08-12
[4]   星载综合孔径辐射计天线辐射目标确定方法、装置及设备 [P]. 
刁宁辉 ;
周武 ;
杨小娇 ;
李一楠 ;
石磊 ;
栗曦 .
中国专利 :CN119714559A ,2025-03-28
[5]   基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
李育芳 ;
吴袁超 ;
雷振羽 .
中国专利 :CN108375767B ,2018-08-07
[6]   综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计 [P]. 
陈建飞 ;
陈晓红 ;
张胜 .
中国专利 :CN107797110A ,2018-03-13
[7]   综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P]. 
胡飞 ;
付鹏 ;
朱冬 ;
苏金龙 .
中国专利 :CN114200448A ,2022-03-18
[8]   综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P]. 
胡飞 ;
付鹏 ;
朱冬 ;
苏金龙 .
中国专利 :CN114200448B ,2025-01-28
[9]   一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法 [P]. 
李青侠 ;
丰励 .
中国专利 :CN103323845A ,2013-09-25
[10]   均匀圆阵列综合孔径辐射计亮温反演成像方法 [P]. 
黄建 ;
裴乃昌 ;
熊阳 .
中国专利 :CN111538000A ,2020-08-14
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