一种基于旋转分时采样的综合孔径辐射计相位自定标方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510885280.3

申请日：

2015-12-04

公开(公告)号：

CN105548973A

公开(公告)日：

2016-05-04

发明(设计)人：

韩东浩刘浩吴季张成张颖

申请人：

申请人地址：

100190 北京市海淀区中关村南二条1号

IPC主分类号：

G01S740

IPC分类号：

代理机构：

北京方安思达知识产权代理有限公司 11472

代理人：

王宇杨;刘振

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101662911755 IPC(主分类):G01S 7/40 专利申请号:2015108852803 申请日:20151204
2016-05-04	公开	公开
2017-12-12	授权	授权

共 50 条

[1] 一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515048B ,2019-11-29

[2] 一种用于综合孔径辐射计阵列的定标方法 [P].

吴海涵 ;

赵崇辉 ;

崔广斌 .

中国专利 :CN109828249A ,2019-05-31

[3] 一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P].

胡飞 ;

杨秀晴 ;

徐炎煜 .

中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30

[4] 基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法 [P].

李青侠 ;

靳榕 ;

沈尚宇 ;

陈柯 .

中国专利 :CN102621532B ,2012-08-01

[5] 一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515049A ,2019-11-29

[6] 一种综合孔径辐射计系统相位残差标定方法 [P].

杨小娇 ;

李一楠 ;

李鹏飞 ;

吴袁超 ;

沈尚宇 ;

宋广南 ;

陈文新 .

中国专利 :CN111929651A ,2020-11-13

[7] 一种综合孔径辐射计系统相位残差标定方法 [P].

杨小娇 ;

李一楠 ;

李鹏飞 ;

吴袁超 ;

沈尚宇 ;

宋广南 ;

陈文新 .

中国专利 :CN111929651B ,2024-03-15

[8] 旋转镜像综合孔径辐射计及测量方法 [P].

李青侠 .

中国专利 :CN104535998A ,2015-04-22

[9] 一维综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN201138358Y ,2008-10-22

[10] 一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法 [P].

李青侠 ;

丰励 .

中国专利 :CN103323845A ,2013-09-25

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