一种用于综合孔径辐射计阵列的定标方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910131341.5

申请日：

2019-02-22

公开(公告)号：

CN109828249A

公开(公告)日：

2019-05-31

发明(设计)人：

吴海涵赵崇辉崔广斌

申请人：

申请人地址：

100854 北京市海淀区永定路51号

IPC主分类号：

G01S740

IPC分类号：

G01S1390

代理机构：

中国航天科工集团公司专利中心 11024

代理人：

葛鹏

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-05-31	公开	公开
2019-06-25	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/40 申请日:20190222
2021-03-19	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01S 7/40 申请公布日:20190531

共 50 条

[1] 一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P].

胡飞 ;

杨秀晴 ;

徐炎煜 .

中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30

[2] 一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515048B ,2019-11-29

[3] 镜像综合孔径辐射计 [P].

李青侠 .

中国专利 :CN103217588A ,2013-07-24

[4] 一种综合孔径微波辐射计阵列因子成型方法 [P].

李青侠 ;

丰励 ;

陈柯 ;

李育芳 .

中国专利 :CN103955602A ,2014-07-30

[5] 基于单射频接收阵列的综合孔径辐射计 [P].

凌小峰 ;

栾英宏 ;

郭松 ;

徐红新 ;

冯剑锋 ;

汪楠 .

中国专利 :CN107479054B ,2017-12-15

[6] 一维综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN201138358Y ,2008-10-22

[7] 一种综合孔径辐射计阵列优化方法及相关设备 [P].

董健 ;

李佳欣 ;

李一楠 ;

窦昊锋 ;

肖程望 .

中国专利 :CN119323186A ,2025-01-17

[8] 一种综合孔径辐射计阵列优化方法及相关设备 [P].

董健 ;

李佳欣 ;

李一楠 ;

窦昊锋 ;

肖程望 .

中国专利 :CN119323186B ,2025-03-07

[9] 综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计 [P].

陈建飞 ;

陈晓红 ;

张胜 .

中国专利 :CN107797110A ,2018-03-13

[10] 一种镜像综合孔径辐射计反演方法 [P].

陈柯 ;

胡孔勇 ;

李青侠 ;

桂良启 ;

郎量 ;

郭伟 ;

靳榕 .

中国专利 :CN105353375A ,2016-02-24

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