一种用于综合孔径辐射计阵列的定标方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910131341.5
申请日
2019-02-22
公开(公告)号
CN109828249A
公开(公告)日
2019-05-31
发明(设计)人
吴海涵 赵崇辉 崔广斌
申请人
申请人地址
100854 北京市海淀区永定路51号
IPC主分类号
G01S740
IPC分类号
G01S1390
代理机构
中国航天科工集团公司专利中心 11024
代理人
葛鹏
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
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