一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910725392.0

申请日：

2019-08-07

公开(公告)号：

CN110515049A

公开(公告)日：

2019-11-29

发明(设计)人：

郭曦刘浩张成吴季

申请人：

申请人地址：

100190 北京市海淀区中关村南二条1号

IPC主分类号：

G01S740

IPC分类号：

G01S1390

代理机构：

北京方安思达知识产权代理有限公司 11472

代理人：

陈琳琳;王宇杨

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-09	授权	授权
2019-11-29	公开	公开
2019-12-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/40 申请日:20190807

共 50 条

[1] 一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515048B ,2019-11-29

[2] 一种综合孔径辐射计成像校正方法 [P].

李青侠 ;

陈柯 ;

陈良兵 ;

郭伟 ;

胡飞 ;

朱耀庭 ;

何方敏 ;

董健 .

中国专利 :CN101261319B ,2008-09-10

[3] 一种综合孔径微波辐射计联合校正方法 [P].

李青侠 ;

卢海梁 ;

李浩 ;

李一楠 ;

李炎 ;

余锐 ;

吕容川 .

中国专利 :CN105738851B ,2016-07-06

[4] 基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375758A ,2018-08-07

[5] 综合孔径辐射计误差校正方法、系统、终端设备及介质 [P].

董健 ;

李佳欣 ;

窦昊锋 ;

肖程望 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

李鹏飞 .

中国专利 :CN120352841A ,2025-07-22

[6] 一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P].

胡飞 ;

杨秀晴 ;

徐炎煜 .

中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30

[7] 基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P].

窦昊锋 ;

李浩 ;

吴袁超 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

吕容川 ;

姜任之 .

中国专利 :CN114185009B ,2025-07-15

[8] 基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P].

窦昊锋 ;

李浩 ;

吴袁超 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

吕容川 ;

姜任之 .

中国专利 :CN114185009A ,2022-03-15

[9] 综合孔径辐射计虚拟相关稀疏成像方法及系统 [P].

申艳 ;

刘静 ;

娄淑琴 ;

陈莹 ;

郝晓莉 ;

侯亚丽 ;

陈后金 ;

闻映红 ;

张超 ;

黄亮 .

中国专利 :CN109061645B ,2018-12-21

[10] 基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法 [P].

李青侠 ;

靳榕 ;

沈尚宇 ;

陈柯 .

中国专利 :CN102621532B ,2012-08-01

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