一种综合孔径微波辐射计联合校正方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610074778.6
申请日
2016-02-02
公开(公告)号
CN105738851B
公开(公告)日
2016-07-06
发明(设计)人
李青侠 卢海梁 李浩 李一楠 李炎 余锐 吕容川
申请人
申请人地址
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号
G01R3500
IPC分类号
代理机构
武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224
代理人
向彬
法律状态
实质审查的生效
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共 50 条
[1]   全极化综合孔径微波辐射计 [P]. 
吴季 ;
阎敬业 ;
马纽埃尔·马丁·尼拉 .
中国专利 :CN101349719A ,2009-01-21
[2]   一维综合孔径微波辐射计 [P]. 
吴季 ;
阎敬业 ;
马纽埃尔·马丁·尼拉 .
中国专利 :CN201138358Y ,2008-10-22
[3]   一种综合孔径微波辐射计阵列因子成型方法 [P]. 
李青侠 ;
丰励 ;
陈柯 ;
李育芳 .
中国专利 :CN103955602A ,2014-07-30
[4]   一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法 [P]. 
郭曦 ;
刘浩 ;
张成 ;
吴季 .
中国专利 :CN110515049A ,2019-11-29
[5]   一种双极化两维综合孔径微波辐射计天线 [P]. 
马岩冰 ;
闵康磊 ;
张宇环 ;
李亮 ;
苏醒 ;
陈建龙 ;
张天乐 .
中国专利 :CN212392376U ,2021-01-22
[6]   基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
李育芳 ;
吴袁超 ;
雷振羽 .
中国专利 :CN108375758A ,2018-08-07
[7]   综合孔径辐射计误差校正方法、系统、终端设备及介质 [P]. 
董健 ;
李佳欣 ;
窦昊锋 ;
肖程望 ;
李一楠 ;
宋广南 ;
李鹏飞 .
中国专利 :CN120352841A ,2025-07-22
[8]   星载分步式一维综合孔径微波辐射计定标系统和方法 [P]. 
陈雄 ;
赵锋 ;
姚崇斌 ;
徐红新 ;
李恩晨 ;
刘甡 .
中国专利 :CN108828327A ,2018-11-16
[9]   一种星载微波辐射计的偏差校正方法 [P]. 
何杰颖 ;
张升伟 ;
王振占 .
中国专利 :CN106569186B ,2017-04-19
[10]   一种星载微波辐射计天线误差校正方法 [P]. 
金旭 ;
陈文新 ;
贺荣荣 ;
迟吉东 ;
胡泰洋 ;
党红杏 ;
徐争放 .
中国专利 :CN109212496A ,2019-01-15