一种综合孔径微波辐射计联合校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610074778.6

申请日：

2016-02-02

公开(公告)号：

CN105738851B

公开(公告)日：

2016-07-06

发明(设计)人：

李青侠卢海梁李浩李一楠李炎余锐吕容川

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01R3500

IPC分类号：

代理机构：

武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224

代理人：

向彬

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101672626620 IPC(主分类):G01R 35/00 专利申请号:2016100747786 申请日:20160202
2016-07-06	公开	公开
2018-12-25	授权	授权

共 50 条

[1] 全极化综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN101349719A ,2009-01-21

[2] 一维综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN201138358Y ,2008-10-22

[3] 一种综合孔径微波辐射计阵列因子成型方法 [P].

李青侠 ;

丰励 ;

陈柯 ;

李育芳 .

中国专利 :CN103955602A ,2014-07-30

[4] 一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515049A ,2019-11-29

[5] 一种双极化两维综合孔径微波辐射计天线 [P].

马岩冰 ;

闵康磊 ;

张宇环 ;

李亮 ;

苏醒 ;

陈建龙 ;

张天乐 .

中国专利 :CN212392376U ,2021-01-22

[6] 基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375758A ,2018-08-07

[7] 综合孔径辐射计误差校正方法、系统、终端设备及介质 [P].

董健 ;

李佳欣 ;

窦昊锋 ;

肖程望 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

李鹏飞 .

中国专利 :CN120352841A ,2025-07-22

[8] 星载分步式一维综合孔径微波辐射计定标系统和方法 [P].

陈雄 ;

赵锋 ;

姚崇斌 ;

徐红新 ;

李恩晨 ;

刘甡 .

中国专利 :CN108828327A ,2018-11-16

[9] 一种星载微波辐射计的偏差校正方法 [P].

何杰颖 ;

张升伟 ;

王振占 .

中国专利 :CN106569186B ,2017-04-19

[10] 一种星载微波辐射计天线误差校正方法 [P].

金旭 ;

陈文新 ;

贺荣荣 ;

迟吉东 ;

胡泰洋 ;

党红杏 ;

徐争放 .

中国专利 :CN109212496A ,2019-01-15

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