一种综合孔径微波辐射计阵列因子成型方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410140849.9

申请日：

2014-04-09

公开(公告)号：

CN103955602A

公开(公告)日：

2014-07-30

发明(设计)人：

李青侠丰励陈柯李育芳

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G06F1900

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

梁鹏

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-07-30	公开	公开
2014-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101586351471 IPC(主分类):G06F 19/00 专利申请号:2014101408499 申请日:20140409
2017-10-13	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101760729524 IPC(主分类):G06F 19/00 专利申请号:2014101408499 申请公布日:20140730

共 50 条

[1] 一维综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN201138358Y ,2008-10-22

[2] 全极化综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN101349719A ,2009-01-21

[3] 一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P].

胡飞 ;

杨秀晴 ;

徐炎煜 .

中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30

[4] 一种双极化两维综合孔径微波辐射计天线 [P].

马岩冰 ;

闵康磊 ;

张宇环 ;

李亮 ;

苏醒 ;

陈建龙 ;

张天乐 .

中国专利 :CN212392376U ,2021-01-22

[5] 镜像综合孔径辐射计 [P].

李青侠 .

中国专利 :CN103217588A ,2013-07-24

[6] 一种综合孔径微波辐射计联合校正方法 [P].

李青侠 ;

卢海梁 ;

李浩 ;

李一楠 ;

李炎 ;

余锐 ;

吕容川 .

中国专利 :CN105738851B ,2016-07-06

[7] 一种用于综合孔径辐射计阵列的定标方法 [P].

吴海涵 ;

赵崇辉 ;

崔广斌 .

中国专利 :CN109828249A ,2019-05-31

[8] 一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法 [P].

李青侠 ;

丰励 .

中国专利 :CN103323845A ,2013-09-25

[9] 一种基于星载综合孔径微波辐射计的近场外定标方法 [P].

李浩 ;

李鹏飞 ;

李一楠 ;

吴袁超 ;

党鹏举 ;

吕容川 ;

陈文新 .

中国专利 :CN113687446B ,2024-02-09

[10] 一种基于星载综合孔径微波辐射计的近场外定标方法 [P].

李浩 ;

李鹏飞 ;

李一楠 ;

吴袁超 ;

党鹏举 ;

吕容川 ;

陈文新 .

中国专利 :CN113687446A ,2021-11-23

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