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基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN202111241089.7
申请日:
2021-10-25
公开(公告)号:
CN114185009A
公开(公告)日:
2022-03-15
发明(设计)人:
窦昊锋
李浩
吴袁超
李一楠
宋广南
吕容川
姜任之
申请人:
申请人地址:
710100 陕西省西安市长安区航天基地东长安街504号
IPC主分类号:
G01S740
IPC分类号:
代理机构:
中国航天科技专利中心 11009
代理人:
刘秀祥
法律状态:
实质审查的生效
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2022-04-01 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/40 申请日:20211025 |
2022-03-15 | 公开 | 公开 |