一种综合孔径辐射计图像反演方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210346376.9
申请日
2012-09-18
公开(公告)号
CN102914774A
公开(公告)日
2013-02-06
发明(设计)人
陈柯 胡飞 黄全亮 贺锋 郭伟 杨宏 赖利 魏文俊
申请人
申请人地址
430074 湖北省武汉市洪山区珞瑜路1037号
IPC主分类号
G01S1390
IPC分类号
代理机构
华中科技大学专利中心 42201
代理人
朱仁玲
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]   一种镜像综合孔径辐射计反演方法 [P]. 
陈柯 ;
胡孔勇 ;
李青侠 ;
桂良启 ;
郎量 ;
郭伟 ;
靳榕 .
中国专利 :CN105353375A ,2016-02-24
[2]   一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法 [P]. 
李青侠 ;
丰励 .
中国专利 :CN103323845A ,2013-09-25
[3]   镜像综合孔径辐射计 [P]. 
李青侠 .
中国专利 :CN103217588A ,2013-07-24
[4]   一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P]. 
胡飞 ;
杨秀晴 ;
徐炎煜 .
中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30
[5]   一维综合孔径微波辐射计 [P]. 
吴季 ;
阎敬业 ;
马纽埃尔·马丁·尼拉 .
中国专利 :CN201138358Y ,2008-10-22
[6]   一种三维天线阵列综合孔径辐射计的图像反演方法 [P]. 
丰励 ;
李育芳 .
中国专利 :CN106842203B ,2017-06-13
[7]   全极化综合孔径微波辐射计 [P]. 
吴季 ;
阎敬业 ;
马纽埃尔·马丁·尼拉 .
中国专利 :CN101349719A ,2009-01-21
[8]   综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计 [P]. 
陈建飞 ;
陈晓红 ;
张胜 .
中国专利 :CN107797110A ,2018-03-13
[9]   三维均匀采样综合孔径辐射计亮温反演方法 [P]. 
丰励 ;
李育芳 .
中国专利 :CN107607946A ,2018-01-19
[10]   均匀圆阵列综合孔径辐射计亮温反演成像方法 [P]. 
黄建 ;
裴乃昌 ;
熊阳 .
中国专利 :CN111538000A ,2020-08-14