基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法和系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410855723.X
申请日
2014-12-31
公开(公告)号
CN104569976B
公开(公告)日
2015-04-29
发明(设计)人
李达
申请人
申请人地址
430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
IPC主分类号
G01S1390
IPC分类号
代理机构
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102
代理人
许美红
法律状态
实质审查的生效
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共 50 条
[1]   综合孔径辐射计虚拟相关稀疏成像方法及系统 [P]. 
申艳 ;
刘静 ;
娄淑琴 ;
陈莹 ;
郝晓莉 ;
侯亚丽 ;
陈后金 ;
闻映红 ;
张超 ;
黄亮 .
中国专利 :CN109061645B ,2018-12-21
[2]   综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计 [P]. 
陈建飞 ;
陈晓红 ;
张胜 .
中国专利 :CN107797110A ,2018-03-13
[3]   基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
李育芳 ;
吴袁超 ;
雷振羽 .
中国专利 :CN108375768B ,2018-08-07
[4]   基于旋转反射面的镜像综合孔径辐射计的成像方法和系统 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
陈柯 ;
李育芳 ;
黄聪聪 ;
胡孟林 .
中国专利 :CN106932774B ,2017-07-07
[5]   基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
李育芳 ;
吴袁超 ;
雷振羽 .
中国专利 :CN108375767B ,2018-08-07
[6]   基于波数域分解的综合孔径辐射计近场成像方法及系统 [P]. 
胡飞 ;
付鹏 ;
郑涛 ;
胡昊 .
中国专利 :CN113970740B ,2024-06-14
[7]   基于波数域分解的综合孔径辐射计近场成像方法及系统 [P]. 
胡飞 ;
付鹏 ;
郑涛 ;
胡昊 .
中国专利 :CN113970740A ,2022-01-25
[8]   基于权向量优化的镜像综合孔径辐射计成像方法及系统 [P]. 
雷振羽 ;
孙瑞 ;
徐杨 ;
梁启超 .
中国专利 :CN119780921A ,2025-04-08
[9]   一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像方法及系统 [P]. 
黄全亮 ;
李青侠 ;
邓威 ;
杨雪清 ;
刘道敏 ;
于华鉴 ;
王凡 ;
陶凯立 .
中国专利 :CN111121980B ,2024-09-24
[10]   一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像方法及系统 [P]. 
黄全亮 ;
李青侠 ;
邓威 ;
杨雪清 ;
刘道敏 ;
于华鉴 ;
王凡 ;
陶凯立 .
中国专利 :CN111121980A ,2020-05-08