共 50 条
基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法和系统
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN201410855723.X
申请日:
2014-12-31
公开(公告)号:
CN104569976B
公开(公告)日:
2015-04-29
发明(设计)人:
李达
申请人:
申请人地址:
430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
IPC主分类号:
G01S1390
IPC分类号:
代理机构:
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102
代理人:
许美红
法律状态:
实质审查的生效
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2015-05-27 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101611398868 IPC(主分类):G01S 13/90 专利申请号:201410855723X 申请日:20141231 |
2018-06-12 | 授权 | 授权 |
2015-04-29 | 公开 | 公开 |