综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111381927.0

申请日：

2021-11-19

公开(公告)号：

CN114200448A

公开(公告)日：

2022-03-18

发明(设计)人：

胡飞付鹏朱冬苏金龙

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01S1390

IPC分类号：

G01S1388 G06F1714

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

胡秋萍

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-18	公开	公开
2022-04-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 13/90 申请日:20211119

共 50 条

[41] 三维均匀采样综合孔径辐射计亮温反演方法 [P].

丰励 ;

李育芳 .

中国专利 :CN107607946A ,2018-01-19

[42] 一种综合孔径辐射计系统相位残差标定方法 [P].

杨小娇 ;

李一楠 ;

李鹏飞 ;

吴袁超 ;

沈尚宇 ;

宋广南 ;

陈文新 .

中国专利 :CN111929651A ,2020-11-13

[43] 一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置 [P].

黄全亮 ;

李青侠 ;

邓威 ;

杨雪清 ;

刘道敏 ;

于华鉴 ;

王凡 ;

陶凯立 .

中国专利 :CN211013262U ,2020-07-14

[44] 基于均匀背景匹配估计的综合孔径辐射计目标检测方法、设备和介质 [P].

王金国 ;

高昭昭 ;

顾杰 ;

赵子龙 ;

付忠健 .

中国专利 :CN119992052A ,2025-05-13

[45] 一种基于一维综合孔径微波辐射计的海面亮温成像仿真方法 [P].

艾未华 ;

冯梦延 ;

陈冠宇 ;

陆文 .

中国专利 :CN109725317B ,2019-05-07

[46] 三维天线阵列综合孔径辐射计分段图像反演方法 [P].

丰励 ;

李育芳 .

中国专利 :CN107167807A ,2017-09-15

[47] 一种一维综合孔径辐射计天线阵列排布方法 [P].

郑涛 ;

胡飞 .

中国专利 :CN111597730B ,2024-03-19

[48] 一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法 [P].

郭曦 ;

刘浩 ;

张成 ;

吴季 .

中国专利 :CN110515049A ,2019-11-29

[49] 基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375758A ,2018-08-07

[50] 一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法 [P].

李青侠 ;

丰励 .

中国专利 :CN103323845A ,2013-09-25

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