一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020051834.6

申请日：

2020-01-10

公开(公告)号：

CN211013262U

公开(公告)日：

2020-07-14

发明(设计)人：

黄全亮李青侠邓威杨雪清刘道敏于华鉴王凡陶凯立

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市珞瑜路1037号

IPC主分类号：

G01J546

IPC分类号：

G01J500

代理机构：

北京金智普华知识产权代理有限公司 11401

代理人：

杨采良

法律状态：

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国省代码：

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-14	授权	授权

共 50 条

[1] 一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像方法及系统 [P].

黄全亮 ;

李青侠 ;

邓威 ;

杨雪清 ;

刘道敏 ;

于华鉴 ;

王凡 ;

陶凯立 .

中国专利 :CN111121980B ,2024-09-24

[2] 一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像方法及系统 [P].

黄全亮 ;

李青侠 ;

邓威 ;

杨雪清 ;

刘道敏 ;

于华鉴 ;

王凡 ;

陶凯立 .

中国专利 :CN111121980A ,2020-05-08

[3] 一维综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN201138358Y ,2008-10-22

[4] 综合孔径辐射计虚拟相关稀疏成像方法及系统 [P].

申艳 ;

刘静 ;

娄淑琴 ;

陈莹 ;

郝晓莉 ;

侯亚丽 ;

陈后金 ;

闻映红 ;

张超 ;

黄亮 .

中国专利 :CN109061645B ,2018-12-21

[5] 一种综合孔径辐射计的天线参数设计方法及综合孔径辐射计 [P].

胡飞 ;

杨秀晴 ;

徐炎煜 .

中国专利 :CN120064801A ,2025-05-30

[6] 基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375768B ,2018-08-07

[7] 一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据融合方法 [P].

张利强 ;

靳榕 ;

张庆君 ;

李青侠 ;

王睿 ;

张欢 .

中国专利 :CN117969557A ,2024-05-03

[8] 基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375767B ,2018-08-07

[9] 综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计 [P].

陈建飞 ;

陈晓红 ;

张胜 .

中国专利 :CN107797110A ,2018-03-13

[10] 二维镜像综合孔径辐射成像方法 [P].

李青侠 ;

陈柯 ;

陈良兵 ;

郭伟 ;

胡飞 .

中国专利 :CN101975947A ,2011-02-16

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