基于双频干涉原理的薄膜厚度测量方法

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申请号
CN202211068992.2
申请日
2022-09-02
公开(公告)号
CN115451842A
公开(公告)日
2022-12-09
发明(设计)人
谢昊 郭天太 王浩
申请人
申请人地址
310018 浙江省杭州市学源街258号中国计量大学
IPC主分类号
G01B1106
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
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共 50 条
[1]   基于双频干涉原理的直线度及其位置的测量方法 [P]. 
陈本永 ;
张恩政 ;
严利平 ;
杨涛 ;
周砚江 .
中国专利 :CN101581576A ,2009-11-18
[2]   基于双频干涉原理的直线度及其位置的测量装置 [P]. 
陈本永 ;
张恩政 ;
严利平 ;
杨涛 ;
周砚江 .
中国专利 :CN101581577A ,2009-11-18
[3]   一种基于双频干涉原理的直线度及其位置的测量装置 [P]. 
陈本永 ;
张恩政 ;
严利平 ;
杨涛 ;
周砚江 .
中国专利 :CN201413130Y ,2010-02-24
[4]   基于迈克尔逊干涉原理的非接触式样品厚度测量方法及测量装置 [P]. 
谭东杰 ;
关国业 ;
林方 .
中国专利 :CN106871797A ,2017-06-20
[5]   薄膜厚度测量装置和薄膜厚度测量方法 [P]. 
张原赫 ;
李洙莲 ;
李孝善 ;
咸守娥 .
韩国专利 :CN120351872A ,2025-07-22
[6]   薄膜厚度测量方法和薄膜厚度测量装置 [P]. 
李建北 ;
张晓梅 .
中国专利 :CN120668009A ,2025-09-19
[7]   一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统 [P]. 
叶瑞芳 ;
程方 ;
苏杭 ;
崔长彩 ;
余卿 ;
王寅 .
中国专利 :CN109883362A ,2019-06-14
[8]   一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统 [P]. 
叶瑞芳 ;
程方 ;
苏杭 ;
崔长彩 ;
余卿 ;
王寅 .
中国专利 :CN209623647U ,2019-11-12
[9]   一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统 [P]. 
叶瑞芳 ;
程方 ;
苏杭 ;
崔长彩 ;
余卿 ;
王寅 .
中国专利 :CN109883362B ,2024-02-02
[10]   一种基于白光干涉的薄膜厚度测量方法及系统 [P]. 
胡继洲 ;
胡美琴 ;
郑建 .
中国专利 :CN118999381A ,2024-11-22