集成电路的磁场检测方法及缺陷检测方法、装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210141423.X

申请日：

2022-02-16

公开(公告)号：

CN114200363B

公开(公告)日：

2022-03-18

发明(设计)人：

孙峰万传奇

申请人：

申请人地址：

230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼A区1-4层

IPC主分类号：

G01R3312

IPC分类号：

G01R3310 G01R33032 G01R3128 G01N2782

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

赵静

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-27	授权	授权
2022-04-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/12 申请日:20220216
2022-03-18	公开	公开

共 50 条

[21] 集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

中国专利 :CN115308467A ,2022-11-08

[22] 一种面向集成电路制造的缺陷检测方法及系统 [P].

任尚勇 ;

黄宝金 ;

张柏国 ;

谢奇 .

中国专利 :CN119986338A ,2025-05-13

[23] 集成电路芯片缺陷检测装置 [P].

苑学涛 .

中国专利 :CN209829618U ,2019-12-24

[24] 检测电路、方法及集成电路 [P].

朱磊 ;

戴山彪 ;

张亚双 ;

肖青 ;

刘勇 ;

孙东昱 .

中国专利 :CN116110202B ,2025-02-18

[25] 一种检测集成电路缺陷的方法及装置 [P].

黄锡军 ;

刘彦静 .

中国专利 :CN112505527A ,2021-03-16

[26] 一种检测集成电路缺陷的方法及装置 [P].

黄锡军 ;

刘彦静 .

中国专利 :CN112505527B ,2024-03-22

[27] 集成电路芯片的检测方法 [P].

张成 ;

姚燕杰 ;

王丽 ;

位贤龙 .

中国专利 :CN113686895A ,2021-11-23

[28] 集成电路检测方法 [P].

张胜禹 .

中国专利 :CN117572216A ,2024-02-20

[29] 集成电路批量检测方法 [P].

姜朔 ;

马进 ;

胡洁 ;

陈集懿 ;

黄海清 ;

戚进 .

中国专利 :CN107677949A ,2018-02-09

[30] 检测集成电路装置的方法 [P].

万建荣 ;

赵亮 .

中国专利 :CN113539875B ,2024-07-02

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