学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审

一种面向集成电路制造的缺陷检测方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510469588.3
申请日：
2025-04-15
公开(公告)号：
CN119986338A
公开(公告)日：
2025-05-13
发明(设计)人：
任尚勇 黄宝金 张柏国 谢奇
申请人：
黑龙江青化民爆器材有限公司
申请人地址：
151600 黑龙江省绥化市青冈县青冈镇青安路南一公里处
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01B11/00 G01B11/24 G01B11/30 G01N23/2251 H01L21/66 H01L21/67 B07C5/34 B07C5/02 B07B1/28
代理机构：
北京工匠慧信知识产权代理事务所(普通合伙) 16227
代理人：
于婷婷
法律状态：
发明专利申请公布后的撤回
国省代码：
黑龙江省 绥化市
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-13 发明专利申请公布后的撤回 发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):G01R 31/28申请公布日:20250513
2025-05-13 公开 公开
2025-05-30 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250415
共 50 条
[1]   一种集成电路封装的缺陷检测方法及系统 [P]. 
钟平权 ;
刘广金 ;
彭奇 ;
徐广龙 .
中国专利 :CN120047446B ,2025-07-18
[2]   一种集成电路封装的缺陷检测方法及系统 [P]. 
钟平权 ;
刘广金 ;
彭奇 ;
徐广龙 .
中国专利 :CN120047446A ,2025-05-27
[3]   一种集成电路缺陷检测方法及系统 [P]. 
尚秋鸽 ;
李永林 ;
孟家琦 ;
王建国 .
中国专利 :CN117929418B ,2024-06-07
[4]   一种集成电路缺陷检测方法及系统 [P]. 
尚秋鸽 ;
李永林 ;
孟家琦 ;
王建国 .
中国专利 :CN117929418A ,2024-04-26
[5]   基于集成电路封装的分层缺陷检测方法及系统 [P]. 
朱家伟 ;
秦舒 ;
张志高 .
中国专利 :CN120142477A ,2025-06-13
[6]   集成电路缺陷检测方法 [P]. 
王琬箐 .
中国专利 :CN115015289A ,2022-09-06
[7]   集成电路缺陷检测方法 [P]. 
王琬箐 .
中国专利 :CN115015289B ,2024-09-17
[8]   集成电路缺陷检测方法 [P]. 
周耀 ;
潘奎 ;
沈春 ;
黄宇峰 .
中国专利 :CN118130610A ,2024-06-04
[9]   一种集成电路芯片缺陷检测方法及系统 [P]. 
付裕 ;
邓艳菲 ;
徐永琪 ;
万运强 ;
罗诗雨 .
中国专利 :CN118641555B ,2024-10-22
[10]   一种集成电路芯片缺陷检测方法及系统 [P]. 
付裕 ;
邓艳菲 ;
徐永琪 ;
万运强 ;
罗诗雨 .
中国专利 :CN118641555A ,2024-09-13
12345