集成电路缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210512379.9

申请日：

2022-05-12

公开(公告)号：

CN115015289B

公开(公告)日：

2024-09-17

发明(设计)人：

王琬箐

申请人：

重庆长安汽车股份有限公司

申请人地址：

400023 重庆市江北区建新东路260号

IPC主分类号：

G01N21/956

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

重庆华科专利事务所 50123

代理人：

谭小琴

法律状态：

授权

国省代码：

重庆市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-17	授权	授权

共 50 条

[1] 集成电路缺陷检测方法 [P].

王琬箐 .

中国专利 :CN115015289A ,2022-09-06

[2] 集成电路缺陷检测方法 [P].

周耀 ;

潘奎 ;

沈春 ;

黄宇峰 .

中国专利 :CN118130610A ,2024-06-04

[3] 一种集成电路芯片缺陷检测方法及系统 [P].

付裕 ;

邓艳菲 ;

徐永琪 ;

万运强 ;

罗诗雨 .

中国专利 :CN118641555B ,2024-10-22

[4] 集成电路芯片微纳尺度缺陷检测装置及方法 [P].

张紫璐 ;

应嘉俊 ;

郎琳 ;

张思源 ;

刘昊洋 ;

江文松 ;

范伟军 .

中国专利 :CN113686872A ,2021-11-23

[5] 一种集成电路芯片缺陷检测方法及系统 [P].

付裕 ;

邓艳菲 ;

徐永琪 ;

万运强 ;

罗诗雨 .

中国专利 :CN118641555A ,2024-09-13

[6] 用于集成电路封装的分层缺陷检测方法 [P].

张学豪 ;

曾国华 ;

叶明明 ;

李栋杰 ;

赵时峰 .

中国专利 :CN112858887B ,2024-10-15

[7] 用于集成电路封装的分层缺陷检测方法 [P].

张学豪 ;

曾国华 ;

叶明明 ;

李栋杰 ;

赵时峰 .

中国专利 :CN112858887A ,2021-05-28

[8] 集成电路的磁场检测方法及缺陷检测方法、装置 [P].

孙峰 ;

万传奇 .

中国专利 :CN114200363B ,2022-03-18

[9] 一种不同方向集成电路版图的缺陷检测方法 [P].

倪棋梁 ;

陈宏璘 ;

龙吟 .

中国专利 :CN104332422A ,2015-02-04

[10] 集成电路芯片缺陷检测装置 [P].

苑学涛 .

中国专利 :CN209829618U ,2019-12-24

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