集成电路缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210512379.9

申请日：

2022-05-12

公开(公告)号：

CN115015289B

公开(公告)日：

2024-09-17

发明(设计)人：

王琬箐

申请人：

重庆长安汽车股份有限公司

申请人地址：

400023 重庆市江北区建新东路260号

IPC主分类号：

G01N21/956

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

重庆华科专利事务所 50123

代理人：

谭小琴

法律状态：

授权

国省代码：

重庆市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-17	授权	授权

共 50 条

[41] 一种面向集成电路制造的缺陷检测方法及系统 [P].

任尚勇 ;

黄宝金 ;

张柏国 ;

谢奇 .

中国专利 :CN119986338A ,2025-05-13

[42] 微集成电路检测系统及其检测方法 [P].

郭雅佩 ;

陈俊霖 .

中国专利 :CN118671563A ,2024-09-20

[43] 阻抗检测电路、方法及集成电路 [P].

祝鹏 ;

肯尼思·奥布赖恩 ;

周佳宁 ;

李永亮 .

中国专利 :CN104849554A ,2015-08-19

[44] 一种用于集成电路芯片检测设备及检测方法 [P].

李晓伟 ;

李晓杰 .

中国专利 :CN114527373A ,2022-05-24

[45] 集成电路的连线缺陷的检测方法与制程监控电路结构 [P].

成文义 ;

邱智彦 ;

雷汉雄 ;

李仲 .

中国专利 :CN1905150A ,2007-01-31

[46] 集成电路芯片的检测系统和方法 [P].

许小军 .

中国专利 :CN110763981A ,2020-02-07

[47] 集成电路硬件木马检测方法及其系统 [P].

何春华 ;

王力纬 ;

侯波 ;

恩云飞 ;

谢少锋 .

中国专利 :CN104237768A ,2014-12-24

[48] 表面缺陷检测装置及其检测方法 [P].

王林梓 ;

张立芳 ;

佟杰 ;

张强强 ;

马铁中 .

中国专利 :CN115575406A ,2023-01-06

[49] 集成电路动态时序检测方法 [P].

王斌 ;

谈杰 .

中国专利 :CN102254055B ,2011-11-23

[50] 集成电路及其错误检测方法 [P].

尼尔·塔莎 .

中国专利 :CN105701422B ,2016-06-22

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