集成电路的磁场检测方法及缺陷检测方法、装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210141423.X

申请日：

2022-02-16

公开(公告)号：

CN114200363B

公开(公告)日：

2022-03-18

发明(设计)人：

孙峰万传奇

申请人：

申请人地址：

230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼A区1-4层

IPC主分类号：

G01R3312

IPC分类号：

G01R3310 G01R33032 G01R3128 G01N2782

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

赵静

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-27	授权	授权
2022-04-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/12 申请日:20220216
2022-03-18	公开	公开

共 50 条

[1] 集成电路缺陷检测方法 [P].

王琬箐 .

中国专利 :CN115015289A ,2022-09-06

[2] 集成电路缺陷检测方法 [P].

王琬箐 .

中国专利 :CN115015289B ,2024-09-17

[3] 集成电路缺陷检测方法 [P].

周耀 ;

潘奎 ;

沈春 ;

黄宇峰 .

中国专利 :CN118130610A ,2024-06-04

[4] 用于集成电路封装的分层缺陷检测方法 [P].

张学豪 ;

曾国华 ;

叶明明 ;

李栋杰 ;

赵时峰 .

中国专利 :CN112858887B ,2024-10-15

[5] 用于集成电路封装的分层缺陷检测方法 [P].

张学豪 ;

曾国华 ;

叶明明 ;

李栋杰 ;

赵时峰 .

中国专利 :CN112858887A ,2021-05-28

[6] 基于集成电路封装的分层缺陷检测方法及系统 [P].

朱家伟 ;

秦舒 ;

张志高 .

中国专利 :CN120142477A ,2025-06-13

[7] 一种集成电路缺陷检测方法及系统 [P].

尚秋鸽 ;

李永林 ;

孟家琦 ;

王建国 .

中国专利 :CN117929418B ,2024-06-07

[8] 基于NV色心的芯片磁场检测方法及装置 [P].

方源 ;

万传奇 .

中国专利 :CN114200362B ,2022-03-18

[9] 一种集成电路缺陷检测方法及系统 [P].

尚秋鸽 ;

李永林 ;

孟家琦 ;

王建国 .

中国专利 :CN117929418A ,2024-04-26

[10] 检测装置、检测方法及检测用集成电路 [P].

富田裕人 ;

渊上郁雄 .

中国专利 :CN101542523A ,2009-09-23

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