集成电路批量检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710672340.2

申请日：

2017-08-08

公开(公告)号：

CN107677949A

公开(公告)日：

2018-02-09

发明(设计)人：

姜朔马进胡洁陈集懿黄海清戚进

申请人：

申请人地址：

200240 上海市闵行区东川路800号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01J500

代理机构：

上海汉声知识产权代理有限公司 31236

代理人：

郭国中

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20170808
2018-02-09	公开	公开
2021-06-11	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20180209

共 50 条

[1] 集成电路批量检测装置 [P].

姜朔 ;

马进 ;

胡洁 ;

陈集懿 ;

黄海清 ;

戚进 .

中国专利 :CN107632250A ,2018-01-26

[2] 集成电路芯片和集成电路芯片防伪检测方法 [P].

谢小东 ;

杨祎 ;

任子木 .

中国专利 :CN106546908A ,2017-03-29

[3] 集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

中国专利 :CN115308467A ,2022-11-08

[4] 集成电路芯片防伪检测方法 [P].

谢小东 ;

杨祎 ;

任子木 .

中国专利 :CN109765476A ,2019-05-17

[5] 集成电路检测方法 [P].

张胜禹 .

中国专利 :CN117572216A ,2024-02-20

[6] 集成电路的检测方法 [P].

余琨 ;

熊忠应 ;

叶守银 ;

叶建明 ;

吴勇佳 .

中国专利 :CN113945830B ,2024-04-26

[7] 集成电路缺陷检测方法 [P].

王琬箐 .

中国专利 :CN115015289B ,2024-09-17

[8] 集成电路缺陷检测方法 [P].

王琬箐 .

中国专利 :CN115015289A ,2022-09-06

[9] 集成电路的检测方法 [P].

萧祝瓜 .

中国专利 :CN1530662A ,2004-09-22

[10] 集成电路缺陷检测方法 [P].

周耀 ;

潘奎 ;

沈春 ;

黄宇峰 .

中国专利 :CN118130610A ,2024-06-04

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