集成电路的检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111227774.4

申请日：

2021-10-21

公开(公告)号：

CN113945830B

公开(公告)日：

2024-04-26

发明(设计)人：

余琨熊忠应叶守银叶建明吴勇佳

申请人：

上海华岭集成电路技术股份有限公司

申请人地址：

201203 上海市浦东新区郭守敬路351号2号楼6楼

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙) 11604

代理人：

方丁一

法律状态：

授权

国省代码：

上海市

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-26	授权	授权

共 50 条

[1] 集成电路的检测方法 [P].

余琨 ;

熊忠应 ;

叶守银 ;

叶建明 ;

吴勇佳 .

中国专利 :CN113945830A ,2022-01-18

[2] 集成电路的检测方法 [P].

萧祝瓜 .

中国专利 :CN1530662A ,2004-09-22

[3] 集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

中国专利 :CN115308467A ,2022-11-08

[4] 集成电路芯片的检测方法 [P].

张成 ;

姚燕杰 ;

王丽 ;

位贤龙 .

中国专利 :CN113686895A ,2021-11-23

[5] 集成电路检测方法 [P].

张胜禹 .

中国专利 :CN117572216A ,2024-02-20

[6] 集成电路缺陷检测方法 [P].

王琬箐 .

中国专利 :CN115015289B ,2024-09-17

[7] 集成电路缺陷检测方法 [P].

王琬箐 .

中国专利 :CN115015289A ,2022-09-06

[8] 集成电路批量检测方法 [P].

姜朔 ;

马进 ;

胡洁 ;

陈集懿 ;

黄海清 ;

戚进 .

中国专利 :CN107677949A ,2018-02-09

[9] 集成电路缺陷检测方法 [P].

周耀 ;

潘奎 ;

沈春 ;

黄宇峰 .

中国专利 :CN118130610A ,2024-06-04

[10] 集成电路芯片和集成电路芯片防伪检测方法 [P].

谢小东 ;

杨祎 ;

任子木 .

中国专利 :CN106546908A ,2017-03-29

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