集成电路检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311642343.3
申请日
2023-12-04
公开(公告)号
CN117572216A
公开(公告)日
2024-02-20
发明(设计)人
张胜禹
申请人
日月新检测科技(苏州)有限公司
申请人地址
215021 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区苏虹西路188号10号楼二楼
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人
林斯凯
法律状态
实质审查的生效
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]   集成电路检测设备 [P]. 
黄世轩 .
中国专利 :CN223332886U ,2025-09-12
[2]   集成电路检测装置 [P]. 
周文进 ;
陈峰 .
中国专利 :CN101165476B ,2008-04-23
[3]   集成电路检测机 [P]. 
张原龙 .
中国专利 :CN1908635A ,2007-02-07
[4]   微集成电路检测系统及其检测方法 [P]. 
郭雅佩 ;
陈俊霖 .
中国专利 :CN118671563A ,2024-09-20
[5]   集成电路缺陷检测方法 [P]. 
周耀 ;
潘奎 ;
沈春 ;
黄宇峰 .
中国专利 :CN118130610A ,2024-06-04
[6]   一种用于集成电路的电路检测方法 [P]. 
龙薇丽 .
中国专利 :CN115372793A ,2022-11-22
[7]   一种集成电路检测平台及其检测方法 [P]. 
孔至颢 .
中国专利 :CN114113986A ,2022-03-01
[8]   集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P]. 
张俊谋 ;
卢山 ;
张闯 ;
陈一敏 ;
王剑 ;
成园林 .
中国专利 :CN115308467A ,2022-11-08
[9]   集成电路检测装置及其制备方法 [P]. 
陈杰良 .
中国专利 :CN1808129A ,2006-07-26
[10]   探针型检测仪,使用这种检测仪的集成电路检测方法以及集成电路 [P]. 
大野利雄 .
中国专利 :CN1214546A ,1999-04-21