集成电路批量检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710672340.2

申请日：

2017-08-08

公开(公告)号：

CN107677949A

公开(公告)日：

2018-02-09

发明(设计)人：

姜朔马进胡洁陈集懿黄海清戚进

申请人：

申请人地址：

200240 上海市闵行区东川路800号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01J500

代理机构：

上海汉声知识产权代理有限公司 31236

代理人：

郭国中

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20170808
2018-02-09	公开	公开
2021-06-11	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20180209

共 50 条

[41] 集成电路以及集成电路方法 [P].

邓儒杰 ;

许国原 .

中国专利 :CN102347066B ,2012-02-08

[42] 集成电路声扫检测装置及其集成电路载具 [P].

马俊成 ;

高娟 ;

高大伟 ;

张佳芬 ;

张益明 .

中国专利 :CN120195285B ,2025-09-02

[43] 集成电路载具及集成电路声扫检测装置 [P].

胡湘洪 ;

罗军 ;

李元晟 ;

王之哲 ;

陈海鑫 .

中国专利 :CN117686593B ,2024-06-18

[44] 集成电路装置及形成集成电路的方法 [P].

赖国智 ;

周仕旻 ;

林个惟 ;

林进富 ;

蔡纬撰 ;

杨钧耀 ;

程家甫 ;

邹宜勲 ;

陈纬 .

中国专利 :CN111370430A ,2020-07-03

[45] 集成电路载具及集成电路声扫检测装置 [P].

胡湘洪 ;

罗军 ;

李元晟 ;

王之哲 ;

陈海鑫 .

中国专利 :CN117686593A ,2024-03-12

[46] 新型集成电路失效分析检测方法 [P].

曹贝贝 .

中国专利 :CN112798931A ,2021-05-14

[47] 信号检测电路、集成电路、检测装置及电子设备 [P].

李晓 ;

王岳 ;

褚晓峰 .

中国专利 :CN217278581U ,2022-08-23

[48] 新型集成电路失效分析检测方法 [P].

曹贝贝 .

中国专利 :CN112798931B ,2025-01-24

[49] 集成电路失效检测方法及装置 [P].

曲晨冰 ;

郑林挺 ;

恩云飞 ;

黄云 ;

路国光 ;

林晓玲 ;

王力纬 ;

黎恩良 ;

侯波 ;

雷登云 ;

孙宸 .

中国专利 :CN114594370A ,2022-06-07

[50] 一种集成电路插口检测结构及其检测方法 [P].

顾瑞升 .

中国专利 :CN112394277A ,2021-02-23

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