一种发射率的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510401884.6

申请日：

2015-07-09

公开(公告)号：

CN105004754A

公开(公告)日：

2015-10-28

发明(设计)人：

李云红张恒马蓉贾利娜

申请人：

申请人地址：

710048 陕西省西安市金花南路19号

IPC主分类号：

G01N2520

IPC分类号：

代理机构：

西安弘理专利事务所 61214

代理人：

罗笛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-11-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101634368629 IPC(主分类):G01N 25/20 专利申请号:2015104018846 申请日:20150709
2015-10-28	公开	公开
2019-03-15	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 25/20 申请公布日:20151028

共 50 条

[1] 一种面料红外发射率的测量方法 [P].

陈益松 ;

王砚 .

中国专利 :CN107748177A ,2018-03-02

[2] α粒子发射率测量方法 [P].

张战刚 ;

罗俊洋 ;

雷志锋 ;

黄云 ;

陈资文 ;

彭超 ;

何玉娟 ;

肖庆中 ;

李键坷 ;

路国光 .

中国专利 :CN113484894A ,2021-10-08

[3] α粒子发射率测量方法 [P].

张战刚 ;

罗俊洋 ;

雷志锋 ;

黄云 ;

陈资文 ;

彭超 ;

何玉娟 ;

肖庆中 ;

李键坷 ;

路国光 .

中国专利 :CN113484894B ,2024-01-05

[4] 一种基于红外热像仪的涂层波段发射率外场测量方法 [P].

邰会强 ;

高佳星 ;

张百灵 ;

隋永华 ;

张安琪 ;

兰宇丹 ;

雷小燕 .

中国专利 :CN113884464B ,2024-04-26

[5] 一种基于红外热像仪的涂层波段发射率外场测量方法 [P].

邰会强 ;

高佳星 ;

张百灵 ;

隋永华 ;

张安琪 ;

兰宇丹 ;

雷小燕 .

中国专利 :CN113884464A ,2022-01-04

[6] 表面发射率测量方法、系统、列车 [P].

张金煜 ;

窦晓亮 ;

战申 ;

李明洋 ;

谷朝健 .

中国专利 :CN120274890A ,2025-07-08

[7] 一种材料方向发射率测量装置及方法 [P].

黄晟 ;

王文松 ;

高明 ;

田志远 ;

杨艳峰 .

中国专利 :CN119197785A ,2024-12-27

[8] 一种红外热像仪快速测量材料表面发射率的方法 [P].

翟玉卫 ;

梁法国 ;

郑世棋 ;

乔玉娥 ;

刘霞美 .

中国专利 :CN103675019B ,2014-03-26

[9] 一种快速切换式发射率测量装置及测量方法 [P].

李宁杰 ;

李贝贝 ;

刘瑞 ;

杨永键 ;

李向芹 ;

谢振超 ;

徐红新 ;

翁艺航 ;

姜丽菲 ;

钱志鹏 .

中国专利 :CN110044490A ,2019-07-23

[10] 一种光谱发射率的测量方法及系统 [P].

吴军 ;

马建光 ;

刘超 ;

李大成 ;

王安静 ;

李扬裕 ;

崔方晓 .

中国专利 :CN113686451A ,2021-11-23

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