一种光谱发射率的测量方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110777853.6

申请日：

2021-07-09

公开(公告)号：

CN113686451A

公开(公告)日：

2021-11-23

发明(设计)人：

吴军马建光刘超李大成王安静李扬裕崔方晓

申请人：

申请人地址：

230000 安徽省合肥市董铺岛

IPC主分类号：

G01J552

IPC分类号：

G01J3443 G01N2500 G01J508

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

林凡燕

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/52 申请日:20210709
2021-11-23	公开	公开

共 50 条

[1] 一种半透明材料光谱发射率测量方法及系统 [P].

邱超 ;

杜继东 ;

曹清政 ;

王莹莹 ;

李建亮 ;

王加朋 .

中国专利 :CN120213824A ,2025-06-27

[2] 多功能光谱发射率测量装置及其测量方法 [P].

于坤 ;

刘栋 ;

刘玉芳 ;

李龙飞 ;

张飞麟 ;

张凯华 .

中国专利 :CN106404181B ,2017-02-15

[3] 一种外场目标发射率的测量方法及系统 [P].

马建光 ;

刘超 ;

吴军 ;

李大成 ;

李扬裕 ;

崔方晓 ;

王安静 .

中国专利 :CN113324663B ,2021-08-31

[4] 一种发射率的测量方法 [P].

李云红 ;

张恒 ;

马蓉 ;

贾利娜 .

中国专利 :CN105004754A ,2015-10-28

[5] α粒子发射率测量方法 [P].

张战刚 ;

罗俊洋 ;

雷志锋 ;

黄云 ;

陈资文 ;

彭超 ;

何玉娟 ;

肖庆中 ;

李键坷 ;

路国光 .

中国专利 :CN113484894A ,2021-10-08

[6] α粒子发射率测量方法 [P].

张战刚 ;

罗俊洋 ;

雷志锋 ;

黄云 ;

陈资文 ;

彭超 ;

何玉娟 ;

肖庆中 ;

李键坷 ;

路国光 .

中国专利 :CN113484894B ,2024-01-05

[7] 红外窗口的高温光谱发射率测量方法及装置 [P].

张宇峰 ;

戴景民 ;

李明 ;

胡卫星 ;

刘安业 ;

付莹 ;

楚春雨 .

中国专利 :CN105784333A ,2016-07-20

[8] 一种低温光谱发射率测量系统 [P].

刘玉芳 ;

李龙飞 ;

于坤 ;

刘彦磊 ;

张凯华 ;

赵保林 .

中国专利 :CN110411576B ,2019-11-05

[9] 一种目标红外光谱发射率外场测量方法及系统 [P].

周亮 ;

刘凯 ;

郭敏 ;

刘朝晖 ;

谢梅林 .

中国专利 :CN118089955A ,2024-05-28

[10] 表面发射率测量方法、系统、列车 [P].

张金煜 ;

窦晓亮 ;

战申 ;

李明洋 ;

谷朝健 .

中国专利 :CN120274890A ,2025-07-08

← 1 2 3 4 5 →