红外窗口的高温光谱发射率测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610185504.4

申请日：

2016-03-29

公开(公告)号：

CN105784333A

公开(公告)日：

2016-07-20

发明(设计)人：

张宇峰戴景民李明胡卫星刘安业付莹楚春雨

申请人：

申请人地址：

121013 辽宁省锦州市松山新区科技路19号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350

代理人：

崔艳姣

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-07-20	公开	公开
2016-08-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101674708516 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2016101855044 申请日:20160329
2020-02-28	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M 11/02 申请公布日:20160720

共 50 条

[1] 一种材料光谱发射率测量装置 [P].

高水静 ;

彭雷 .

中国专利 :CN205027658U ,2016-02-10

[2] 高温目标材料红外发射率测量装置及方法 [P].

解俊虎 ;

王军 ;

陈青 ;

成娟 ;

高蒙 ;

高飞 ;

高教波 .

中国专利 :CN110017902A ,2019-07-16

[3] 多功能光谱发射率测量装置及其测量方法 [P].

于坤 ;

刘栋 ;

刘玉芳 ;

李龙飞 ;

张飞麟 ;

张凯华 .

中国专利 :CN106404181B ,2017-02-15

[4] 一种半透明材料光谱发射率测量方法及系统 [P].

邱超 ;

杜继东 ;

曹清政 ;

王莹莹 ;

李建亮 ;

王加朋 .

中国专利 :CN120213824A ,2025-06-27

[5] 一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法 [P].

张学聪 ;

温悦 ;

蔡静 ;

张岚 ;

李丹 ;

高一凡 .

中国专利 :CN114509165B ,2024-04-19

[6] 一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法 [P].

张学聪 ;

温悦 ;

蔡静 ;

张岚 ;

李丹 ;

高一凡 .

中国专利 :CN114509165A ,2022-05-17

[7] 一种光谱发射率的测量方法及系统 [P].

吴军 ;

马建光 ;

刘超 ;

李大成 ;

王安静 ;

李扬裕 ;

崔方晓 .

中国专利 :CN113686451A ,2021-11-23

[8] 高精度红外样品材料光谱发射率测量装置及方法 [P].

袁良 ;

占春连 ;

李正琪 ;

杨鸿儒 ;

卢飞 ;

李燕 .

中国专利 :CN104390931A ,2015-03-04

[9] 一种高温粒子幕光谱发射率的测量系统及其方法 [P].

杨理理 ;

黄冠 ;

詹叶圳 .

中国专利 :CN113418890B ,2021-09-21

[10] 一种用于高温粒子幕光谱发射率测量的加热装置 [P].

杨理理 ;

黄冠 ;

詹叶圳 .

中国专利 :CN113447403B ,2021-09-28

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