α粒子发射率测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110654439.6

申请日：

2021-06-11

公开(公告)号：

CN113484894A

公开(公告)日：

2021-10-08

发明(设计)人：

张战刚罗俊洋雷志锋黄云陈资文彭超何玉娟肖庆中李键坷路国光

申请人：

申请人地址：

511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

IPC主分类号：

G01T116

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

郭凤杰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-10-08	公开	公开
2021-10-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/16 申请日:20210611

共 50 条

[1] α粒子发射率测量方法 [P].

张战刚 ;

罗俊洋 ;

雷志锋 ;

黄云 ;

陈资文 ;

彭超 ;

何玉娟 ;

肖庆中 ;

李键坷 ;

路国光 .

中国专利 :CN113484894B ,2024-01-05

[2] α粒子发射率测试方法 [P].

张战刚 ;

陈资文 ;

雷志锋 ;

黄云 ;

罗俊洋 ;

彭超 ;

何玉娟 ;

肖庆中 ;

李键坷 ;

路国光 .

中国专利 :CN113568031A ,2021-10-29

[3] 表面发射率测量方法、系统、列车 [P].

张金煜 ;

窦晓亮 ;

战申 ;

李明洋 ;

谷朝健 .

中国专利 :CN120274890A ,2025-07-08

[4] 高温材料发射率测量方法和系统 [P].

张虎 ;

孙红胜 ;

陈应航 ;

王加朋 ;

任小婉 ;

宋春晖 ;

李世伟 .

中国专利 :CN102928343A ,2013-02-13

[5] 一种发射率的测量方法 [P].

李云红 ;

张恒 ;

马蓉 ;

贾利娜 .

中国专利 :CN105004754A ,2015-10-28

[6] 多功能光谱发射率测量装置及其测量方法 [P].

于坤 ;

刘栋 ;

刘玉芳 ;

李龙飞 ;

张飞麟 ;

张凯华 .

中国专利 :CN106404181B ,2017-02-15

[7] 发射率测量方法、装置、系统、设备及介质 [P].

贺书芳 ;

刘金元 ;

代彩红 ;

王彦飞 ;

冯国进 ;

王景辉 ;

甘海勇 .

中国专利 :CN118836986A ,2024-10-25

[8] 一种面料红外发射率的测量方法 [P].

陈益松 ;

王砚 .

中国专利 :CN107748177A ,2018-03-02

[9] 表面温度和发射率的测量装置和测量方法 [P].

谢植 ;

车勋建 ;

谢淇先 ;

王立忠 .

中国专利 :CN108240865B ,2024-03-29

[10] 表面温度和发射率的测量装置和测量方法 [P].

谢植 ;

车勋建 ;

谢淇先 ;

王立忠 .

中国专利 :CN108240865A ,2018-07-03

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