α粒子发射率测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110654439.6

申请日：

2021-06-11

公开(公告)号：

CN113484894A

公开(公告)日：

2021-10-08

发明(设计)人：

张战刚罗俊洋雷志锋黄云陈资文彭超何玉娟肖庆中李键坷路国光

申请人：

申请人地址：

511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

IPC主分类号：

G01T116

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

郭凤杰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-10-08	公开	公开
2021-10-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/16 申请日:20210611

共 50 条

[21] 一种非同温条件下的发射率测量方法 [P].

杜永明 ;

曹彪 ;

历华 ;

卞尊健 ;

肖青 ;

柳钦火 .

中国专利 :CN112146765A ,2020-12-29

[22] 一种基于反射法的方向发射率测量装置及测量方法 [P].

刘彦磊 ;

刘玉芳 ;

于坤 ;

马王杰慧 ;

张凯华 ;

李龙飞 .

中国专利 :CN110530525A ,2019-12-03

[23] 一种外场快速测量金属表面发射率装置及其测量方法 [P].

毛德龙 ;

王康硕 ;

何凛 ;

王怡豪 ;

任海刚 ;

沙江 ;

付宇 ;

孙甜 ;

王奔 .

中国专利 :CN115096938A ,2022-09-23

[24] 一种微波辐射计黑体发射率测量系统及测量方法 [P].

岳增祥 ;

陈后财 ;

朱庆林 ;

刘萱 ;

海阿静 ;

吕正阳 .

中国专利 :CN113670950A ,2021-11-19

[25] 一种半透明材料光谱发射率测量方法及系统 [P].

邱超 ;

杜继东 ;

曹清政 ;

王莹莹 ;

李建亮 ;

王加朋 .

中国专利 :CN120213824A ,2025-06-27

[26] 一种高温材料温度和发射率的测量方法及测量系统 [P].

王翔 ;

何志平 ;

杨秋杰 ;

毛志远 ;

顾罗 ;

袁毅帆 ;

林玥 ;

牛晨 .

中国专利 :CN119309695A ,2025-01-14

[27] 一种微波辐射计黑体发射率测量系统及测量方法 [P].

岳增祥 ;

陈后财 ;

朱庆林 ;

刘萱 ;

海阿静 ;

吕正阳 .

中国专利 :CN113670950B ,2025-04-22

[28] 粒子测量装置、粒子测量方法、反射率基准样品 [P].

安斋由美子 ;

峰邑浩行 .

日本专利 :CN120693510A ,2025-09-23

[29] 粒子测量装置、粒子测量方法、样品容器 [P].

峰邑浩行 ;

安斋由美子 ;

大泽贤太郎 .

日本专利 :CN117980720A ,2024-05-03

[30] 一种基于红外热像仪的涂层波段发射率外场测量方法 [P].

邰会强 ;

高佳星 ;

张百灵 ;

隋永华 ;

张安琪 ;

兰宇丹 ;

雷小燕 .

中国专利 :CN113884464B ,2024-04-26

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