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一种基于红外热像仪的涂层波段发射率外场测量方法
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN202111135068.7
申请日:
2021-09-27
公开(公告)号:
CN113884464A
公开(公告)日:
2022-01-04
发明(设计)人:
邰会强
高佳星
张百灵
隋永华
张安琪
兰宇丹
雷小燕
申请人:
申请人地址:
710100 陕西省西安市国家民用航天产业基地航创路1123号慧谷创新园B栋西侧1-4层
IPC主分类号:
G01N213563
IPC分类号:
G01N2195
代理机构:
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427
代理人:
郭晶
法律状态:
实质审查的生效
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2022-01-21 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/3563 申请日:20210927 |
2022-01-04 | 公开 | 公开 |