基于红外热像仪的红外辐射薄膜透过率的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610908299.X

申请日：

2016-10-18

公开(公告)号：

CN106501305A

公开(公告)日：

2017-03-15

发明(设计)人：

吴思伟吴行阳杨连乔张建华殷录桥李起鸣特洛伊·乔纳森·贝克

申请人：

申请人地址：

200436 上海市宝山区上大路99号

IPC主分类号：

G01N2520

IPC分类号：

代理机构：

上海光华专利事务所 31219

代理人：

姚艳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-03-15	公开	公开
2019-05-28	授权	授权
2017-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101712758915 IPC(主分类):G01N 25/20 专利申请号:201610908299X 申请日:20161018

共 50 条

[1] 一种基于红外热像仪的涂层波段发射率外场测量方法 [P].

邰会强 ;

高佳星 ;

张百灵 ;

隋永华 ;

张安琪 ;

兰宇丹 ;

雷小燕 .

中国专利 :CN113884464A ,2022-01-04

[2] 一种基于红外热像仪的涂层波段发射率外场测量方法 [P].

邰会强 ;

高佳星 ;

张百灵 ;

隋永华 ;

张安琪 ;

兰宇丹 ;

雷小燕 .

中国专利 :CN113884464B ,2024-04-26

[3] 基于红外热像仪的工件缺陷测量方法和系统 [P].

吴保林 ;

陈梦娟 .

中国专利 :CN109187637A ,2019-01-11

[4] 一种基于红外热像仪的多光谱辐射测温装置及其测量方法 [P].

戴景民 ;

王振涛 ;

陈杨 ;

杨宗举 ;

郑洪全 .

中国专利 :CN115524012A ,2022-12-27

[5] 一种基于红外热像仪测量30～90℃材料表面辐射率的方法 [P].

尹忠东 ;

白云松 .

中国专利 :CN113418612A ,2021-09-21

[6] 点目标红外辐射测量方法 [P].

杨国庆 ;

余毅 ;

孙志远 ;

李周 ;

李云龙 ;

庞鑫宇 ;

张涛 .

中国专利 :CN117723157B ,2024-04-30

[7] 点目标红外辐射测量方法 [P].

杨国庆 ;

余毅 ;

孙志远 ;

李周 ;

李云龙 ;

庞鑫宇 ;

张涛 .

中国专利 :CN117723157A ,2024-03-19

[8] 基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法 [P].

董学金 ;

季琨 ;

庞乐 ;

代善良 .

中国专利 :CN105486711B ,2016-04-13

[9] 红外热像仪的隔热装置及红外热像仪 [P].

陈伍龙 ;

王义 ;

于双龙 ;

赵梦杰 ;

林小云 .

中国专利 :CN213714551U ,2021-07-16

[10] 一种可测量物体发热面积的红外热像仪及其测量方法 [P].

盛明时 .

中国专利 :CN102680111A ,2012-09-19

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