基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510812414.9

申请日：

2015-11-20

公开(公告)号：

CN105486711B

公开(公告)日：

2016-04-13

发明(设计)人：

董学金季琨庞乐代善良

申请人：

申请人地址：

200240 上海市闵行区华宁路251号

IPC主分类号：

G01N2500

IPC分类号：

代理机构：

上海汉声知识产权代理有限公司 31236

代理人：

郭国中

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-09	授权	授权
2016-05-11	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101659561534 IPC(主分类):G01N 25/00 专利申请号:2015108124149 申请日:20151120
2016-04-13	公开	公开

共 50 条

[1] 材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214A ,2024-05-07

[2] 材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214B ,2025-05-13

[3] 一种红外热像仪快速测量材料表面发射率的方法 [P].

翟玉卫 ;

梁法国 ;

郑世棋 ;

乔玉娥 ;

刘霞美 .

中国专利 :CN103675019B ,2014-03-26

[4] 一种基于红外热像仪的发射率测试方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN109211959A ,2019-01-15

[5] 一种基于红外热像仪的涂层波段发射率外场测量方法 [P].

邰会强 ;

高佳星 ;

张百灵 ;

隋永华 ;

张安琪 ;

兰宇丹 ;

雷小燕 .

中国专利 :CN113884464B ,2024-04-26

[6] 一种基于红外热像仪的涂层波段发射率外场测量方法 [P].

邰会强 ;

高佳星 ;

张百灵 ;

隋永华 ;

张安琪 ;

兰宇丹 ;

雷小燕 .

中国专利 :CN113884464A ,2022-01-04

[7] 一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法 [P].

沈庆刚 ;

夏玉保 ;

夏飞云 .

中国专利 :CN106248214A ,2016-12-21

[8] 高温目标材料红外发射率测量装置及方法 [P].

解俊虎 ;

王军 ;

陈青 ;

成娟 ;

高蒙 ;

高飞 ;

高教波 .

中国专利 :CN110017902A ,2019-07-16

[9] 基于红外测温仪的材料发射率测量方法 [P].

牛春洋 ;

齐宏 ;

王大林 ;

阮立明 ;

姜宝成 .

中国专利 :CN103091252A ,2013-05-08

[10] 红外涂层材料发射率测量设备 [P].

纪晨曦 ;

丁凯波 ;

赵娜 ;

刘佳 ;

周洋 ;

赵璐锋 .

中国专利 :CN309390183S ,2025-07-18

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