一种基于红外热像仪测量30～90℃材料表面辐射率的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110645937.4

申请日：

2021-06-09

公开(公告)号：

CN113418612A

公开(公告)日：

2021-09-21

发明(设计)人：

尹忠东白云松

申请人：

申请人地址：

102206 北京市昌平区回龙观镇北农路2号

IPC主分类号：

G01J500

IPC分类号：

G01J502

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-21	公开	公开

共 50 条

[1] 一种红外热像仪快速测量材料表面发射率的方法 [P].

翟玉卫 ;

梁法国 ;

郑世棋 ;

乔玉娥 ;

刘霞美 .

中国专利 :CN103675019B ,2014-03-26

[2] 基于红外热像仪的红外辐射薄膜透过率的测量方法 [P].

吴思伟 ;

吴行阳 ;

杨连乔 ;

张建华 ;

殷录桥 ;

李起鸣 ;

特洛伊·乔纳森·贝克 .

中国专利 :CN106501305A ,2017-03-15

[3] 一种辐射率测量装置 [P].

张喆民 ;

黄达泉 ;

张天雨 ;

苑静 ;

王伟志 ;

钟星辉 ;

李胜雪 ;

何奇超 .

中国专利 :CN207798269U ,2018-08-31

[4] 一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法 [P].

沈庆刚 ;

夏玉保 ;

夏飞云 .

中国专利 :CN106248214A ,2016-12-21

[5] 一种辐射率测量装置及方法 [P].

张喆民 ;

黄达泉 ;

张天雨 ;

苑静 ;

王伟志 ;

钟星辉 ;

李胜雪 ;

何奇超 .

中国专利 :CN107941350A ,2018-04-20

[6] 基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法 [P].

董学金 ;

季琨 ;

庞乐 ;

代善良 .

中国专利 :CN105486711B ,2016-04-13

[7] 一种基于红外热像仪的发射率测试方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN109211959A ,2019-01-15

[8] 一种灰体辐射率的测量方法 [P].

包训阳 .

中国专利 :CN110411583A ,2019-11-05

[9] 一种基于红外热像仪的多光谱辐射测温装置及其测量方法 [P].

戴景民 ;

王振涛 ;

陈杨 ;

杨宗举 ;

郑洪全 .

中国专利 :CN115524012A ,2022-12-27

[10] 一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法 [P].

胡飞 ;

苏金龙 ;

田岩 ;

程亚运 ;

伍宏飞 ;

胡演 ;

宋梦婷 .

中国专利 :CN108680262A ,2018-10-19

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