一种发射率的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510401884.6

申请日：

2015-07-09

公开(公告)号：

CN105004754A

公开(公告)日：

2015-10-28

发明(设计)人：

李云红张恒马蓉贾利娜

申请人：

申请人地址：

710048 陕西省西安市金花南路19号

IPC主分类号：

G01N2520

IPC分类号：

代理机构：

西安弘理专利事务所 61214

代理人：

罗笛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-11-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101634368629 IPC(主分类):G01N 25/20 专利申请号:2015104018846 申请日:20150709
2015-10-28	公开	公开
2019-03-15	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 25/20 申请公布日:20151028

共 50 条

[21] 一种半透明材料光谱发射率测量方法及系统 [P].

邱超 ;

杜继东 ;

曹清政 ;

王莹莹 ;

李建亮 ;

王加朋 .

中国专利 :CN120213824A ,2025-06-27

[22] 多功能光谱发射率测量装置及其测量方法 [P].

于坤 ;

刘栋 ;

刘玉芳 ;

李龙飞 ;

张飞麟 ;

张凯华 .

中国专利 :CN106404181B ,2017-02-15

[23] 一种微波黑体发射率测量装置及测量方法 [P].

李彬 ;

金铭 ;

王晓峰 .

中国专利 :CN108981922A ,2018-12-11

[24] 材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214A ,2024-05-07

[25] 材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214B ,2025-05-13

[26] 一种发射率测量装置的校准方法 [P].

张宇峰 ;

安东阳 ;

王洋 ;

唐增武 ;

戴景民 ;

刘钊 ;

贾辉 ;

刘文皓 .

中国专利 :CN114184569A ,2022-03-15

[27] 一种非同温条件下的发射率测量方法 [P].

杜永明 ;

曹彪 ;

历华 ;

卞尊健 ;

肖青 ;

柳钦火 .

中国专利 :CN112146765A ,2020-12-29

[28] 表面温度和发射率的测量装置和测量方法 [P].

谢植 ;

车勋建 ;

谢淇先 ;

王立忠 .

中国专利 :CN108240865B ,2024-03-29

[29] 表面温度和发射率的测量装置和测量方法 [P].

谢植 ;

车勋建 ;

谢淇先 ;

王立忠 .

中国专利 :CN108240865A ,2018-07-03

[30] 一种基于反射法的方向发射率测量装置及测量方法 [P].

刘彦磊 ;

刘玉芳 ;

于坤 ;

马王杰慧 ;

张凯华 ;

李龙飞 .

中国专利 :CN110530525A ,2019-12-03

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