一种发射率测量装置的校准方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111474386.6

申请日：

2021-12-03

公开(公告)号：

CN114184569A

公开(公告)日：

2022-03-15

发明(设计)人：

张宇峰安东阳王洋唐增武戴景民刘钊贾辉刘文皓

申请人：

申请人地址：

121013 辽宁省锦州市松山新区科技路19号

IPC主分类号：

G01N213563

IPC分类号：

代理机构：

北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386

代理人：

岳渊渊

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-15	公开	公开
2022-04-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/3563 申请日:20211203

共 50 条

[1] 材料表面发射率测量装置 [P].

赵雨晨 ;

张恒成 ;

沈福至 ;

黄子淳 ;

李来风 .

中国专利 :CN220568657U ,2024-03-08

[2] 材料表面发射率测量装置 [P].

赵雨晨 ;

张恒成 ;

沈福至 ;

黄子淳 ;

李来风 .

中国专利 :CN119354924A ,2025-01-24

[3] 一种材料方向发射率测量装置及方法 [P].

黄晟 ;

王文松 ;

高明 ;

田志远 ;

杨艳峰 .

中国专利 :CN119197785A ,2024-12-27

[4] 一种发射率的测量方法 [P].

李云红 ;

张恒 ;

马蓉 ;

贾利娜 .

中国专利 :CN105004754A ,2015-10-28

[5] 一种发射率现场测量的方法 [P].

张才根 ;

李琦 .

中国专利 :CN1021254C ,1992-03-04

[6] 一种表面发射率测量装置 [P].

许铁军 ;

姚达毛 ;

韩乐 ;

田焜 ;

张斌 .

中国专利 :CN210719419U ,2020-06-09

[7] 材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214A ,2024-05-07

[8] 材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214B ,2025-05-13

[9] 一种面源黑体发射率测量装置及方法 [P].

邱超 ;

王加朋 ;

王莹莹 ;

李建亮 ;

宋春晖 ;

杨树辉 .

中国专利 :CN120213234A ,2025-06-27

[10] 一种导电材料的发射率测量装置 [P].

熊兵 ;

李杨 ;

赵会妮 ;

龚强国 .

中国专利 :CN203479710U ,2014-03-12

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