集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711455300.9

申请日：

2017-12-28

公开(公告)号：

CN108169661B

公开(公告)日：

2018-06-15

发明(设计)人：

张进吕平刘勤让沈剑良宋克朱珂王永胜徐庆阳李沛杰张波杨堃王锐何浩李杨肖峰毛英杰赵玉林

申请人：

申请人地址：

300450 天津市滨海新区滨海-中关村科技园荣晟广场4号楼702-7

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371

代理人：

张红平

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20171228
2020-07-10	授权	授权
2018-06-15	公开	公开
2022-08-16	专利权质押合同登记的生效、变更及注销	专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 登记号:Y2022120000046 登记生效日:20220729 出质人:天津芯海创科技有限公司质权人:天津科融融资担保有限公司发明名称:集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法申请日:20171228 授权公告日:20200710

共 50 条

[21] 用于集成电路设计的测量电路和方法 [P].

陈先敏 ;

杨家奇 .

中国专利 :CN104977469B ,2015-10-14

[22] 集成电路以及设计集成电路的方法 [P].

克里斯托弗·罗伯特·特雷兹 .

中国专利 :CN1862968B ,2006-11-15

[23] 集成电路设计和/或制造 [P].

珍·卢克·佩洛依 .

中国专利 :CN109426695A ,2019-03-05

[24] 集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[25] 用于集成电路设计和制造的方法 [P].

欧宗桦 ;

谢艮轩 ;

张世明 ;

黄文俊 ;

赖志明 ;

刘如淦 ;

高蔡胜 .

中国专利 :CN105047658B ,2015-11-11

[26] 管理集成电路设计的装置和方法 [P].

斯蒂芬库克 ;

西蒙布洛德利 ;

马克比尔顿 ;

马克法尔 ;

本文波利 ;

李翰威特 ;

蒂姆格洛夫 .

中国专利 :CN1666202A ,2005-09-07

[27] 管理集成电路设计的装置和方法 [P].

斯蒂芬库克 ;

西蒙布洛德利 ;

马克比尔顿 ;

马克法尔 ;

本文波利 ;

李翰威特 ;

蒂姆格洛夫 .

中国专利 :CN102902839A ,2013-01-30

[28] 一种集成电路设计方法 [P].

郑英周 ;

赖志明 ;

欧宗桦 ;

董易谕 ;

赵孝蜀 ;

吴旻鸿 ;

侯永清 ;

刘如淦 ;

郑仪侃 ;

辜耀进 .

中国专利 :CN101807219B ,2010-08-18

[29] 用于修改集成电路设计的方法 [P].

张啟文 ;

管瑞丰 .

中国专利 :CN111177998A ,2020-05-19

[30] 一种集成电路设计方法 [P].

郭阳 ;

陈书明 ;

刘祥远 ;

刘浩 ;

李振涛 ;

孙永节 ;

陈跃跃 ;

胡春媚 ;

刘必慰 ;

池雅庆 ;

陈建军 .

中国专利 :CN106847806A ,2017-06-13

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