集成电路测试方法和集成电路测试系统

被引：0

申请号：

CN202111621658.0

申请日：

2021-12-28

公开(公告)号：

CN114264936A

公开(公告)日：

2022-04-01

发明(设计)人：

张晓磊

申请人：

申请人地址：

215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R19165

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287

代理人：

林斯凯

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-10	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:申请人变更前:苏州日月新半导体有限公司变更后:日月新半导体（苏州）有限公司变更事项:地址变更前:215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号变更后:215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号
2022-04-01	公开	公开
2022-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211228

共 50 条

[1] 集成电路测试系统 [P].

张悦 .

中国专利 :CN210007709U ,2020-01-31

[2] 集成电路测试系统 [P].

祁俊华 .

中国专利 :CN108107309A ,2018-06-01

[3] 集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN207799022U ,2018-08-31

[4] 集成电路测试系统 [P].

祁俊华 .

中国专利 :CN207798988U ,2018-08-31

[5] 集成电路测试系统 [P].

林益民 .

中国专利 :CN1611957A ,2005-05-04

[6] 集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN203909236U ,2014-10-29

[7] 集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02

[8] 集成电路测试系统的点检方法以及集成电路测试系统 [P].

金浩 ;

边垚垚 .

中国专利 :CN119926810A ,2025-05-06

[9] 集成电路测试方法 [P].

吴明锡 .

中国专利 :CN102279356A ,2011-12-14

[10] 集成电路测试系统及测试方法 [P].

顾良波 ;

张志勇 ;

余琨 ;

王锦 ;

叶建明 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN103777131A ,2014-05-07

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