集成电路测试方法和集成电路测试系统

被引：0

申请号：

CN202111621658.0

申请日：

2021-12-28

公开(公告)号：

CN114264936A

公开(公告)日：

2022-04-01

发明(设计)人：

张晓磊

申请人：

申请人地址：

215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R19165

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287

代理人：

林斯凯

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-10	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:申请人变更前:苏州日月新半导体有限公司变更后:日月新半导体（苏州）有限公司变更事项:地址变更前:215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号变更后:215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号
2022-04-01	公开	公开
2022-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211228

共 50 条

[21] 集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[22] 集成电路测试机箱 [P].

郭松瑜 .

中国专利 :CN309397215S ,2025-07-22

[23] 集成电路测试机箱 [P].

林建军 .

中国专利 :CN308776018S ,2024-08-09

[24] 测试集成电路的方法和测试系统 [P].

安基达·帕帝达 ;

桑迪·库马·戈埃尔 ;

李云汉 .

中国专利 :CN115308563A ,2022-11-08

[25] 测试集成电路的方法和测试系统 [P].

安基达·帕帝达 ;

桑迪·库马·戈埃尔 ;

李云汉 .

中国专利 :CN115308563B ,2025-08-12

[26] 集成电路测试座及集成电路测试装置 [P].

程振 ;

李志雄 ;

刘旭 ;

王平 ;

燕祖德 .

中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08

[27] 集成电路测试方法和测试设备 [P].

亨德里克斯·P·E·弗兰肯 .

中国专利 :CN101300499B ,2008-11-05

[28] 集成电路测试方法和采用该测试方法的集成电路测试装置 [P].

桥本好弘 .

中国专利 :CN1244925A ,2000-02-16

[29] 集成电路的测试电路 [P].

施浩 .

中国专利 :CN2844936Y ,2006-12-06

[30] 射频集成电路测试系统 [P].

陈昆 ;

阳润 ;

王露 ;

苏良勇 ;

范麟 ;

唐睿 ;

万天才 ;

徐骅 .

中国专利 :CN202393878U ,2012-08-22

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