集成电路测试方法和集成电路测试系统

被引：0

申请号：

CN202111621658.0

申请日：

2021-12-28

公开(公告)号：

CN114264936A

公开(公告)日：

2022-04-01

发明(设计)人：

张晓磊

申请人：

申请人地址：

215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R19165

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287

代理人：

林斯凯

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-10	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:申请人变更前:苏州日月新半导体有限公司变更后:日月新半导体（苏州）有限公司变更事项:地址变更前:215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号变更后:215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号
2022-04-01	公开	公开
2022-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211228

共 50 条

[41] 集成电路测试座 [P].

S·明威立耶 .

中国专利 :CN101233415A ,2008-07-30

[42] 集成电路测试头 [P].

田楠 ;

周欣萍 ;

周静 ;

陈海波 ;

冯建呈 ;

闫丽琴 .

中国专利 :CN307316524S ,2022-05-06

[43] 集成电路测试座 [P].

杨光 ;

刘国 ;

冯开勇 ;

王刚 .

中国专利 :CN218213141U ,2023-01-03

[44] 集成电路测试插口 [P].

足立清 .

中国专利 :CN1237663C ,2003-10-22

[45] 集成电路测试模组 [P].

吕学忠 ;

陈绍焜 ;

许志行 ;

徐鑫洲 .

中国专利 :CN2826440Y ,2006-10-11

[46] 集成电路测试模块 [P].

亚德里恩·翁 .

中国专利 :CN101163977A ,2008-04-16

[47] 集成电路测试设备 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN105929321A ,2016-09-07

[48] 一种集成电路测试系统 [P].

田婷婷 .

中国专利 :CN113655366A ,2021-11-16

[49] MTS通用总线集成电路测试系统 [P].

张书恒 .

中国专利 :CN201796117U ,2011-04-13

[50] 一种集成电路测试系统 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN203012088U ,2013-06-19

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