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集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN201711455300.9
申请日:
2017-12-28
公开(公告)号:
CN108169661B
公开(公告)日:
2018-06-15
发明(设计)人:
张进
吕平
刘勤让
沈剑良
宋克
朱珂
王永胜
徐庆阳
李沛杰
张波
杨堃
王锐
何浩
李杨
肖峰
毛英杰
赵玉林
申请人:
申请人地址:
300450 天津市滨海新区滨海-中关村科技园荣晟广场4号楼702-7
IPC主分类号:
G01R3128
IPC分类号:
代理机构:
北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371
代理人:
张红平
法律状态:
实质审查的生效
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2018-07-13 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20171228 |
2020-07-10 | 授权 | 授权 |
2018-06-15 | 公开 | 公开 |
2022-08-16 | 专利权质押合同登记的生效、变更及注销 | 专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 登记号:Y2022120000046 登记生效日:20220729 出质人:天津芯海创科技有限公司 质权人:天津科融融资担保有限公司 发明名称:集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法 申请日:20171228 授权公告日:20200710 |