集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201711455300.9
申请日
2017-12-28
公开(公告)号
CN108169661B
公开(公告)日
2018-06-15
发明(设计)人
张进 吕平 刘勤让 沈剑良 宋克 朱珂 王永胜 徐庆阳 李沛杰 张波 杨堃 王锐 何浩 李杨 肖峰 毛英杰 赵玉林
申请人
申请人地址
300450 天津市滨海新区滨海-中关村科技园荣晟广场4号楼702-7
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371
代理人
张红平
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
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罗婉瑜 ;
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[2]   集成电路设计方法 [P]. 
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[3]   集成电路设计方法 [P]. 
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[5]   集成电路方法以及集成电路设计系统 [P]. 
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[6]   集成电路设计 [P]. 
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[9]   集成电路设计系统 [P]. 
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[10]   集成电路设计系统 [P]. 
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