集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711455300.9

申请日：

2017-12-28

公开(公告)号：

CN108169661B

公开(公告)日：

2018-06-15

发明(设计)人：

张进吕平刘勤让沈剑良宋克朱珂王永胜徐庆阳李沛杰张波杨堃王锐何浩李杨肖峰毛英杰赵玉林

申请人：

申请人地址：

300450 天津市滨海新区滨海-中关村科技园荣晟广场4号楼702-7

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371

代理人：

张红平

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20171228
2020-07-10	授权	授权
2018-06-15	公开	公开
2022-08-16	专利权质押合同登记的生效、变更及注销	专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 登记号:Y2022120000046 登记生效日:20220729 出质人:天津芯海创科技有限公司质权人:天津科融融资担保有限公司发明名称:集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法申请日:20171228 授权公告日:20200710

共 50 条

[41] 集成电路设计的定制布局 [P].

R·B·勒弗茨 .

中国专利 :CN107239588A ,2017-10-10

[42] 用于优化集成电路设计的系统和方法 [P].

古鲁·普拉萨德 ;

少骏·库玛 .

中国专利 :CN113361219A ,2021-09-07

[43] 集成电路设计的布局优化 [P].

陈皇宇 ;

侯元德 ;

高于翔 ;

谢艮轩 ;

刘如淦 ;

鲁立忠 .

中国专利 :CN105631085A ,2016-06-01

[44] 用于集成电路设计的验证系统和方法 [P].

贾森·雷蒙德·鲍姆加特纳 ;

罗伯特·洛厄尔·坎泽尔曼 ;

哈利·莫尼 ;

维里施·帕鲁斯 .

中国专利 :CN100416575C ,2005-08-24

[45] 集成电路开发系统、集成电路开发方法以及集成电路 [P].

李倩倩 .

中国专利 :CN118246391A ,2024-06-25

[46] 测试电路插入集成电路的方法、装置和集成电路 [P].

方志强 ;

汪瑶 ;

张伦 ;

耿锐 .

中国专利 :CN120409384A ,2025-08-01

[47] 一种集成电路及其为集成电路设计导线布局的方法 [P].

L·阿加瓦尔 ;

L·A·巴恩哈特 .

中国专利 :CN1183602C ,2001-12-19

[48] 诊断系统、集成电路设计布局及物理集成电路实施的方法 [P].

张简维平 ;

郑宏正 ;

林佩莹 ;

徐欣吴 .

中国专利 :CN106897477B ,2017-06-27

[49] 检核或执行集成电路设计的方法以及集成电路检核系统 [P].

陈克明 ;

杨翔博 ;

梅曦克 .

中国专利 :CN102004808B ,2011-04-06

[50] 集成电路和用于测试该集成电路的方法 [P].

C·H·范贝尔克尔 ;

A·M·G·佩特尔斯 .

中国专利 :CN100477522C ,2004-07-21

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