基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810111067.0

申请日：

2018-02-05

公开(公告)号：

CN108375768B

公开(公告)日：

2018-08-07

发明(设计)人：

李青侠窦昊锋桂良启李育芳吴袁超雷振羽

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01S1390

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

李智;曹葆青

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-07	公开	公开
2020-08-04	授权	授权
2018-08-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 13/90 申请日:20180205

共 50 条

[1] 基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375767B ,2018-08-07

[2] 基于权向量优化的镜像综合孔径辐射计成像方法及系统 [P].

雷振羽 ;

孙瑞 ;

徐杨 ;

梁启超 .

中国专利 :CN119780921A ,2025-04-08

[3] 镜像综合孔径辐射计 [P].

李青侠 .

中国专利 :CN103217588A ,2013-07-24

[4] 全实天线镜像综合孔径辐射计及成像方法 [P].

雷振羽 ;

张天柱 ;

董亚洲 ;

孙瑞 ;

徐杨 ;

梁启超 .

中国专利 :CN117491748A ,2024-02-02

[5] 全极化综合孔径微波辐射计 [P].

吴季 ;

阎敬业 ;

马纽埃尔·马丁·尼拉 .

中国专利 :CN101349719A ,2009-01-21

[6] 基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

李育芳 ;

吴袁超 ;

雷振羽 .

中国专利 :CN108375758A ,2018-08-07

[7] 基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P].

窦昊锋 ;

李浩 ;

吴袁超 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

吕容川 ;

姜任之 .

中国专利 :CN114185009B ,2025-07-15

[8] 基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P].

窦昊锋 ;

李浩 ;

吴袁超 ;

李一楠 ;

宋广南 ;

吕容川 ;

姜任之 .

中国专利 :CN114185009A ,2022-03-15

[9] 倾斜四反射板镜像综合孔径辐射计及成像方法 [P].

李青侠 ;

雷振羽 ;

窦昊锋 ;

李育芳 ;

陈柯 ;

靳榕 ;

桂良启 ;

郎量 .

中国专利 :CN110118968A ,2019-08-13

[10] 基于旋转反射面的镜像综合孔径辐射计的成像方法和系统 [P].

李青侠 ;

窦昊锋 ;

桂良启 ;

陈柯 ;

李育芳 ;

黄聪聪 ;

胡孟林 .

中国专利 :CN106932774B ,2017-07-07

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